Nature.com 'ਤੇ ਜਾਣ ਲਈ ਤੁਹਾਡਾ ਧੰਨਵਾਦ।ਤੁਸੀਂ ਸੀਮਤ CSS ਸਮਰਥਨ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਬ੍ਰਾਊਜ਼ਰ ਸੰਸਕਰਣ ਵਰਤ ਰਹੇ ਹੋ।ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਅਨੁਭਵ ਲਈ, ਅਸੀਂ ਸਿਫ਼ਾਰਿਸ਼ ਕਰਦੇ ਹਾਂ ਕਿ ਤੁਸੀਂ ਇੱਕ ਅੱਪਡੇਟ ਕੀਤੇ ਬ੍ਰਾਊਜ਼ਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ (ਜਾਂ ਇੰਟਰਨੈੱਟ ਐਕਸਪਲੋਰਰ ਵਿੱਚ ਅਨੁਕੂਲਤਾ ਮੋਡ ਨੂੰ ਅਯੋਗ ਕਰੋ)।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਚੱਲ ਰਹੇ ਸਮਰਥਨ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ, ਅਸੀਂ ਸਟਾਈਲ ਅਤੇ JavaScript ਤੋਂ ਬਿਨਾਂ ਸਾਈਟ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹਾਂ।
ਇੱਕ ਵਾਰ ਵਿੱਚ ਤਿੰਨ ਸਲਾਈਡਾਂ ਦਾ ਇੱਕ ਕੈਰੋਸਲ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ।ਇੱਕ ਸਮੇਂ ਵਿੱਚ ਤਿੰਨ ਸਲਾਈਡਾਂ ਵਿੱਚ ਜਾਣ ਲਈ ਪਿਛਲੇ ਅਤੇ ਅਗਲੇ ਬਟਨਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ, ਜਾਂ ਇੱਕ ਸਮੇਂ ਵਿੱਚ ਤਿੰਨ ਸਲਾਈਡਾਂ ਵਿੱਚ ਜਾਣ ਲਈ ਅੰਤ ਵਿੱਚ ਸਲਾਈਡਰ ਬਟਨਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ।
ਮੈਡੀਕਲ ਉਪਕਰਨਾਂ ਅਤੇ ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਲਈ ਨਵੀਂ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਉਹਨਾਂ ਦੀਆਂ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਵਿਆਪਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਅਤੇ ਚੁਣੌਤੀਪੂਰਨ ਹੈ।ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰਾਂ ਦੀ ਇੱਕ ਪਰਤ ਦੇ ਨਾਲ ਲੇਪ ਵਾਲੇ ਇੱਕ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਿਲੀਕੋਨ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਨਵੇਂ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਦੇ ਬਹੁਤ ਨੀਵੇਂ ਸਤਹ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਇੱਕ ਸੋਧਿਆ ਪਰਮਾਣੂ ਬਲ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (AFM) ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਤਕਨੀਕ ਲਾਗੂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ।ਇਹ ਵਿਧੀ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰਾਂ ਦੇ ਨੇੜੇ ਪਹੁੰਚਣ 'ਤੇ ਲੇਸਦਾਰ ਐਕਸਟਰਿਊਸ਼ਨ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਤੋਂ ਬਿਨਾਂ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂਆਂ ਦੇ ਸਹੀ ਨਿਰਧਾਰਨ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦੀ ਹੈ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਇਹ ਪੋਰੋਲੈਸਟਿਕਤਾ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਤੋਂ ਬਿਨਾਂ ਵਿਅਕਤੀਗਤ ਬੁਰਸ਼ ਤੱਤਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨਾ ਸੰਭਵ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ.ਇਹ ਇੱਕ ਡਿਜ਼ਾਈਨ (ਟਿਪ ਸਾਈਜ਼, ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਅਤੇ ਸਪਰਿੰਗ ਰੇਟ) ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ AFM ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਚੋਣ ਕਰਕੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਜੋ ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਅਤੇ ਜੈਵਿਕ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਢੁਕਵਾਂ ਹੈ।ਇਹ ਵਿਧੀ ਬਹੁਤ ਹੀ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਦੇ ਸਹੀ ਮਾਪ ਲਈ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਅਤੇ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਵਿੱਚ ਸੁਧਾਰ ਕਰਦੀ ਹੈ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਸਤਹ ਖੇਤਰ (2 kPa ਤੱਕ) ਅਤੇ ਅੰਦਰੂਨੀ (ਲਗਭਗ 100%) ਜਲਮਈ ਵਾਤਾਵਰਣ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਉੱਚ ਲਚਕਤਾ ਦਾ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਘੱਟ ਮਾਡਿਊਲਸ ਹੈ। .ਸਤ੍ਹਾ ਦੇ ਅਧਿਐਨ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੇ ਨਾ ਸਿਰਫ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਲੈਂਸ ਦੇ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਤਹ ਗੁਣਾਂ ਦਾ ਖੁਲਾਸਾ ਕੀਤਾ, ਬਲਕਿ ਇਹ ਵੀ ਦਿਖਾਇਆ ਕਿ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦਾ ਮਾਡਿਊਲਸ ਸਿਲੀਕਾਨ-ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਨ ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ ਸੀ।ਇਹ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਤਕਨੀਕ ਨੂੰ ਹੋਰ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਅਤੇ ਮੈਡੀਕਲ ਉਪਕਰਣਾਂ 'ਤੇ ਲਾਗੂ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।
ਜੀਵਤ ਟਿਸ਼ੂ ਦੇ ਨਾਲ ਸਿੱਧੇ ਸੰਪਰਕ ਲਈ ਤਿਆਰ ਕੀਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਅਕਸਰ ਜੈਵਿਕ ਵਾਤਾਵਰਣ ਦੁਆਰਾ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕੀਤੀਆਂ ਜਾਂਦੀਆਂ ਹਨ।ਇਹਨਾਂ ਪਦਾਰਥਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਸੰਪੂਰਨ ਮੇਲ ਪ੍ਰਤੀਕੂਲ ਸੈਲੂਲਰ ਪ੍ਰਤੀਕ੍ਰਿਆਵਾਂ 1,2,3 ਦਾ ਕਾਰਨ ਬਣੇ ਬਿਨਾਂ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀਆਂ ਲੋੜੀਂਦੀਆਂ ਕਲੀਨਿਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਮਦਦ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਥੋਕ ਸਮਰੂਪ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ, ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਮਿਆਰੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀਆਂ ਦੀ ਉਪਲਬਧਤਾ ਦੇ ਕਾਰਨ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਆਸਾਨ ਹੈ (ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, ਮਾਈਕ੍ਰੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ 4,5,6)।ਹਾਲਾਂਕਿ, ਅਲਟਰਾ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਜੈੱਲ, ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਲ, ਬਾਇਓਪੋਲੀਮਰ, ਜੀਵਿਤ ਸੈੱਲ, ਆਦਿ ਲਈ, ਇਹ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀਆਂ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਮਾਪ ਰੈਜ਼ੋਲੂਸ਼ਨ ਸੀਮਾਵਾਂ ਅਤੇ ਕੁਝ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀ ਅਸੰਗਤਤਾ ਕਾਰਨ ਲਾਗੂ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ।ਸਾਲਾਂ ਦੌਰਾਨ, ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀਆਂ ਨੂੰ ਸੰਸ਼ੋਧਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ ਅਤੇ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਅਨੁਕੂਲਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ, ਪਰ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਵਿਧੀਆਂ ਅਜੇ ਵੀ ਗੰਭੀਰ ਕਮੀਆਂ ਤੋਂ ਪੀੜਤ ਹਨ ਜੋ ਉਹਨਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ 8,9,10,11,12,13 ਨੂੰ ਸੀਮਿਤ ਕਰਦੀਆਂ ਹਨ।ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀਆਂ ਦੀ ਘਾਟ ਜੋ ਸੁਪਰਸੌਫਟ ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਸਤਹ ਦੀਆਂ ਪਰਤਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਅਤੇ ਭਰੋਸੇਮੰਦ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਦਰਸਾਉਂਦੀਆਂ ਹਨ, ਵੱਖ-ਵੱਖ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਵਿੱਚ ਉਹਨਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨੂੰ ਬੁਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਸੀਮਤ ਕਰਦੀ ਹੈ।
ਸਾਡੇ ਪਿਛਲੇ ਕੰਮ ਵਿੱਚ, ਅਸੀਂ ਅੱਖ ਦੇ ਕੋਰਨੀਆ ਦੀ ਸਤਹ ਤੋਂ ਪ੍ਰੇਰਿਤ ਸੰਭਾਵੀ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਸਾਰੇ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਨਰਮ ਵਿਪਰੀਤ ਸਮੱਗਰੀ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ (ਸੀਐਲ) ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਪੇਸ਼ ਕੀਤਾ।ਇਸ ਬਾਇਓਮਟੀਰੀਅਲ ਨੂੰ ਡਾਕਟਰੀ ਉਪਕਰਨਾਂ ਲਈ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਿਲੀਕੋਨ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ (SiHy) 15 'ਤੇ ਪੌਲੀ (2-ਮੇਥਾਕਰੀਲੋਇਲੌਕਸੀਐਥਾਈਲਫੋਸਫੋਰਿਲਕੋਲੀਨ (MPC)) (PMPC) ਦੀ ਬ੍ਰਾਂਚਡ, ਕਰਾਸ-ਲਿੰਕਡ ਪੋਲੀਮਰ ਪਰਤ ਨੂੰ ਗ੍ਰਾਫਟ ਕਰਕੇ ਵਿਕਸਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।ਇਹ ਗ੍ਰਾਫਟਿੰਗ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਇੱਕ ਪਰਤ ਬਣਾਉਂਦੀ ਹੈ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਨਰਮ ਅਤੇ ਬਹੁਤ ਹੀ ਲਚਕੀਲੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰਿਕ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਸਾਡੇ ਪਿਛਲੇ ਕੰਮ ਨੇ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕੀਤੀ ਹੈ ਕਿ lehfilcon A CL ਦੀ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਬਣਤਰ ਉੱਤਮ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੀ ਹੈ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸੁਧਰੀ ਹੋਈ ਗਿੱਲੀ ਅਤੇ ਫਾਊਲਿੰਗ ਰੋਕਥਾਮ, ਵਧੀ ਹੋਈ ਲੁਬਰੀਸਿਟੀ, ਅਤੇ ਘਟੀ ਹੋਈ ਸੈੱਲ ਅਤੇ ਬੈਕਟੀਰੀਆ ਦੇ ਅਨੁਕੂਲਨ 15,16।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਇਸ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਾਮੱਗਰੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਅਤੇ ਵਿਕਾਸ ਹੋਰ ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਯੰਤਰਾਂ ਲਈ ਹੋਰ ਵਿਸਥਾਰ ਦਾ ਸੁਝਾਅ ਵੀ ਦਿੰਦਾ ਹੈ।ਇਸ ਲਈ, ਭਵਿੱਖ ਦੇ ਵਿਕਾਸ ਅਤੇ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਦਾ ਸਮਰਥਨ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਵਿਆਪਕ ਗਿਆਨ ਅਧਾਰ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਇਸ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀਆਂ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣਾ ਅਤੇ ਅੱਖ ਨਾਲ ਇਸਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਪਰਸਪਰ ਪ੍ਰਭਾਵ ਨੂੰ ਸਮਝਣਾ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ।ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਵਪਾਰਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉਪਲਬਧ SiHy ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਹਾਈਡ੍ਰੋਫਿਲਿਕ ਅਤੇ ਹਾਈਡ੍ਰੋਫੋਬਿਕ ਪੌਲੀਮਰਾਂ ਦੇ ਇੱਕੋ ਜਿਹੇ ਮਿਸ਼ਰਣ ਨਾਲ ਬਣੇ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਜੋ ਇੱਕ ਸਮਾਨ ਪਦਾਰਥ ਬਣਤਰ ਬਣਾਉਂਦੇ ਹਨ।ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਕੰਪਰੈਸ਼ਨ, ਟੈਂਸਿਲ ਅਤੇ ਮਾਈਕ੍ਰੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀਆਂ 18,19,20,21 ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਉਹਨਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਨ ਲਈ ਕਈ ਅਧਿਐਨ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ।ਹਾਲਾਂਕਿ, lehfilcon A CL ਦਾ ਨਾਵਲ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਇਸ ਨੂੰ ਇੱਕ ਵਿਲੱਖਣ ਵਿਪਰੀਤ ਸਮੱਗਰੀ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ SiHy ਬੇਸ ਸਬਸਟਰੇਟ ਨਾਲੋਂ ਕਾਫ਼ੀ ਵੱਖਰੀਆਂ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ।ਇਸ ਲਈ, ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਅਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਇਹਨਾਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪਣਾ ਬਹੁਤ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੈ।ਇੱਕ ਹੋਨਹਾਰ ਵਿਧੀ ਪ੍ਰਮਾਣੂ ਸ਼ਕਤੀ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (AFM) ਵਿੱਚ ਲਾਗੂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਟੈਸਟਿੰਗ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੀ ਹੈ, ਇੱਕ ਵਿਧੀ ਜਿਸਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨਰਮ ਵਿਸਕੋਇਲੈਸਟਿਕ ਸਮੱਗਰੀ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਜੈਵਿਕ ਸੈੱਲਾਂ ਅਤੇ ਟਿਸ਼ੂਆਂ ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਨਾਲ ਹੀ ਨਰਮ ਪੋਲੀਮਰ 22,23,24,25 .,26,27,28,29,30.AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿੱਚ, ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਟੈਸਟਿੰਗ ਦੇ ਬੁਨਿਆਦੀ ਤੱਤਾਂ ਨੂੰ AFM ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਵਿੱਚ ਨਵੀਨਤਮ ਤਰੱਕੀ ਦੇ ਨਾਲ ਜੋੜਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਜੋ ਵਧੀ ਹੋਈ ਮਾਪ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਅਤੇ ਅੰਦਰੂਨੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸੁਪਰਸੌਫਟ ਸਮੱਗਰੀ 31,32,33,34,35,36 ਦੀ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ ਦੀ ਜਾਂਚ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕੇ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਜਿਓਮੈਟਰੀਆਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਰਾਹੀਂ ਹੋਰ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਫਾਇਦੇ ਪੇਸ਼ ਕਰਦੀ ਹੈ।ਇੰਡੈਂਟਰ ਅਤੇ ਪੜਤਾਲ ਅਤੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਤਰਲ ਮੀਡੀਆ ਵਿੱਚ ਜਾਂਚ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ।
AFM nanoindentation ਨੂੰ ਸ਼ਰਤ ਅਨੁਸਾਰ ਤਿੰਨ ਮੁੱਖ ਭਾਗਾਂ ਵਿੱਚ ਵੰਡਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ: (1) ਸਾਜ਼ੋ-ਸਾਮਾਨ (ਸੈਂਸਰ, ਡਿਟੈਕਟਰ, ਪੜਤਾਲ, ਆਦਿ);(2) ਮਾਪ ਮਾਪਦੰਡ (ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਬਲ, ਵਿਸਥਾਪਨ, ਗਤੀ, ਰੈਂਪ ਦਾ ਆਕਾਰ, ਆਦਿ);(3) ਡੇਟਾ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ (ਬੇਸਲਾਈਨ ਸੁਧਾਰ, ਟੱਚ ਪੁਆਇੰਟ ਅਨੁਮਾਨ, ਡੇਟਾ ਫਿਟਿੰਗ, ਮਾਡਲਿੰਗ, ਆਦਿ)।ਇਸ ਵਿਧੀ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਸਮੱਸਿਆ ਇਹ ਹੈ ਕਿ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਸਾਹਿਤ ਵਿੱਚ ਕਈ ਅਧਿਐਨਾਂ ਉਸੇ ਨਮੂਨੇ/ਸੈੱਲ/ਸਮੱਗਰੀ ਕਿਸਮ37,38,39,40,41 ਲਈ ਬਹੁਤ ਵੱਖਰੇ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਰਿਪੋਰਟ ਕਰਦੀਆਂ ਹਨ।ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ, Lekka et al.ਮਕੈਨੀਕਲ ਤੌਰ 'ਤੇ ਸਮਰੂਪ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਅਤੇ ਵਿਭਿੰਨ ਸੈੱਲਾਂ ਦੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੇ ਮਾਪੇ ਯੰਗ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ 'ਤੇ AFM ਪੜਤਾਲ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਅਤੇ ਤੁਲਨਾ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ।ਉਹ ਰਿਪੋਰਟ ਕਰਦੇ ਹਨ ਕਿ ਮਾਡਿਊਲਸ ਮੁੱਲ ਕੰਟੀਲੀਵਰ ਚੋਣ ਅਤੇ ਟਿਪ ਸ਼ਕਲ 'ਤੇ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਨਿਰਭਰ ਹਨ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਪਿਰਾਮਿਡ-ਆਕਾਰ ਦੀ ਜਾਂਚ ਲਈ ਸਭ ਤੋਂ ਵੱਧ ਮੁੱਲ ਅਤੇ ਗੋਲਾਕਾਰ ਜਾਂਚ ਲਈ 42 ਦਾ ਸਭ ਤੋਂ ਘੱਟ ਮੁੱਲ ਹੈ।ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਸੈਲਹੂਬਰ-ਅਨਕੇਲ ਐਟ ਅਲ.ਇਹ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ ਕਿ ਕਿਵੇਂ ਇੰਡੈਂਟਰ ਸਪੀਡ, ਇੰਡੈਂਟਰ ਸਾਈਜ਼ ਅਤੇ ਪੌਲੀਐਕਰੀਲਾਮਾਈਡ (PAAM) ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਮੋਟਾਈ ACM43 ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਦੁਆਰਾ ਮਾਪੀ ਗਈ ਯੰਗ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦੀ ਹੈ।ਇੱਕ ਹੋਰ ਗੁੰਝਲਦਾਰ ਕਾਰਕ ਮਿਆਰੀ ਬਹੁਤ ਘੱਟ ਮਾਡਿਊਲਸ ਟੈਸਟ ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਮੁਫਤ ਟੈਸਟ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆਵਾਂ ਦੀ ਘਾਟ ਹੈ।ਇਸ ਨਾਲ ਭਰੋਸੇ ਨਾਲ ਸਹੀ ਨਤੀਜੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨਾ ਬਹੁਤ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।ਹਾਲਾਂਕਿ, ਇਹ ਵਿਧੀ ਸਮਾਨ ਨਮੂਨੇ ਦੀਆਂ ਕਿਸਮਾਂ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਸਾਪੇਖਿਕ ਮਾਪਾਂ ਅਤੇ ਤੁਲਨਾਤਮਕ ਮੁਲਾਂਕਣਾਂ ਲਈ ਬਹੁਤ ਉਪਯੋਗੀ ਹੈ, ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ ਕੈਂਸਰ ਸੈੱਲਾਂ 44, 45 ਤੋਂ ਆਮ ਸੈੱਲਾਂ ਨੂੰ ਵੱਖ ਕਰਨ ਲਈ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ।
AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਨਾਲ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਦੇ ਸਮੇਂ, ਅੰਗੂਠੇ ਦਾ ਇੱਕ ਆਮ ਨਿਯਮ ਇੱਕ ਘੱਟ ਸਪਰਿੰਗ ਸਥਿਰ (k) ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ ਹੈ ਜੋ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਅਤੇ ਇੱਕ ਗੋਲਾਕਾਰ/ਗੋਲ ਟਿਪ ਨਾਲ ਨਜ਼ਦੀਕੀ ਨਾਲ ਮੇਲ ਖਾਂਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਕਿ ਪਹਿਲੀ ਪੜਤਾਲ ਨਮੂਨੇ ਦੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਨੂੰ ਵਿੰਨ੍ਹ ਨਾ ਸਕੇ। ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਨਾਲ ਪਹਿਲੀ ਸੰਪਰਕ.ਇਹ ਵੀ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ ਕਿ ਪੜਤਾਲ ਦੁਆਰਾ ਉਤਪੰਨ ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ ਸਿਗਨਲ ਇੰਨਾ ਮਜ਼ਬੂਤ ​​ਹੋਵੇ ਕਿ ਲੇਜ਼ਰ ਡਿਟੈਕਟਰ ਸਿਸਟਮ24,34,46,47 ਦੁਆਰਾ ਖੋਜਿਆ ਜਾ ਸਕੇ।ਅਤਿ-ਨਰਮ ਵਿਭਿੰਨ ਸੈੱਲਾਂ, ਟਿਸ਼ੂਆਂ ਅਤੇ ਜੈੱਲਾਂ ਦੇ ਮਾਮਲੇ ਵਿੱਚ, ਇੱਕ ਹੋਰ ਚੁਣੌਤੀ ਪੁਨਰ-ਉਤਪਾਦਨਯੋਗ ਅਤੇ ਭਰੋਸੇਯੋਗ ਮਾਪਾਂ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਜਾਂਚ ਅਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਸਤਹ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਚਿਪਕਣ ਵਾਲੀ ਸ਼ਕਤੀ ਨੂੰ ਦੂਰ ਕਰਨਾ ਹੈ।ਹਾਲ ਹੀ ਵਿੱਚ, AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ 'ਤੇ ਜ਼ਿਆਦਾਤਰ ਕੰਮ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਵੱਡੀ ਗੋਲਾਕਾਰ ਜਾਂਚਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਜੈਵਿਕ ਸੈੱਲਾਂ, ਟਿਸ਼ੂਆਂ, ਜੈੱਲਾਂ, ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਲ, ਅਤੇ ਬਾਇਓਮੋਲੀਕਿਊਲਸ ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਵਹਾਰ ਦੇ ਅਧਿਐਨ 'ਤੇ ਕੇਂਦ੍ਰਿਤ ਹੈ, ਜਿਸਨੂੰ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੋਲੋਇਡਲ ਪੜਤਾਲਾਂ (CPs) ਕਿਹਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।, 47, 51, 52, 53, 54, 55. ਇਹਨਾਂ ਟਿਪਸ ਦਾ ਘੇਰਾ 1 ਤੋਂ 50 µm ਹੈ ਅਤੇ ਇਹ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਬੋਰੋਸਿਲੀਕੇਟ ਗਲਾਸ, ਪੌਲੀਮੀਥਾਈਲ ਮੈਥੈਕ੍ਰੀਲੇਟ (PMMA), ਪੋਲੀਸਟੀਰੀਨ (PS), ਸਿਲੀਕਾਨ ਡਾਈਆਕਸਾਈਡ (SiO2) ਅਤੇ ਹੀਰੇ ਤੋਂ ਬਣੇ ਹੁੰਦੇ ਹਨ। ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਕਾਰਬਨ (DLC)।ਹਾਲਾਂਕਿ CP-AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਅਕਸਰ ਨਰਮ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ ਪਹਿਲੀ ਪਸੰਦ ਹੁੰਦੀ ਹੈ, ਇਸ ਦੀਆਂ ਆਪਣੀਆਂ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਅਤੇ ਸੀਮਾਵਾਂ ਹਨ।ਵੱਡੇ, ਮਾਈਕ੍ਰੋਨ-ਆਕਾਰ ਦੇ ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪਸ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਨਾਲ ਟਿਪ ਦੇ ਕੁੱਲ ਸੰਪਰਕ ਖੇਤਰ ਨੂੰ ਵਧਾਉਂਦੀ ਹੈ ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਸਥਾਨਿਕ ਰੈਜ਼ੋਲੂਸ਼ਨ ਦਾ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਨੁਕਸਾਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਨਰਮ, ਅਸੰਗਤ ਨਮੂਨੇ ਲਈ, ਜਿੱਥੇ ਸਥਾਨਕ ਤੱਤਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ਾਲ ਖੇਤਰ ਵਿੱਚ ਔਸਤ ਨਾਲੋਂ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵੱਖਰੀਆਂ ਹੋ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ, CP ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਥਾਨਕ ਪੈਮਾਨੇ52 'ਤੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਕਿਸੇ ਵੀ ਅਸਮਾਨਤਾ ਨੂੰ ਲੁਕਾ ਸਕਦੀ ਹੈ।ਕੋਲੋਇਡਲ ਪੜਤਾਲਾਂ ਨੂੰ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਈਪੌਕਸੀ ਅਡੈਸਿਵਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਮਾਈਕ੍ਰੋਨ-ਆਕਾਰ ਦੇ ਕੋਲੋਇਡਲ ਗੋਲਿਆਂ ਨੂੰ ਟਿਪਲ ਰਹਿਤ ਕੰਟੀਲੀਵਰਾਂ ਨਾਲ ਜੋੜ ਕੇ ਬਣਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।ਨਿਰਮਾਣ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਆਪਣੇ ਆਪ ਵਿੱਚ ਬਹੁਤ ਸਾਰੀਆਂ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਨਾਲ ਭਰੀ ਹੋਈ ਹੈ ਅਤੇ ਜਾਂਚ ਕੈਲੀਬ੍ਰੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਵਿੱਚ ਅਸੰਗਤਤਾਵਾਂ ਪੈਦਾ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਕੋਲੋਇਡਲ ਕਣਾਂ ਦਾ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਪੁੰਜ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੰਟੀਲੀਵਰ ਦੇ ਮੁੱਖ ਕੈਲੀਬ੍ਰੇਸ਼ਨ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਤ ਕਰਦੇ ਹਨ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਗੂੰਜਣ ਵਾਲੀ ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ, ਬਸੰਤ ਦੀ ਕਠੋਰਤਾ, ਅਤੇ ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ56,57,58।ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਰਵਾਇਤੀ AFM ਪੜਤਾਲਾਂ ਲਈ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੀਆਂ ਜਾਂਦੀਆਂ ਵਿਧੀਆਂ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਤਾਪਮਾਨ ਕੈਲੀਬਰੇਸ਼ਨ, CP ਲਈ ਇੱਕ ਸਹੀ ਕੈਲੀਬ੍ਰੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਦਾਨ ਨਹੀਂ ਕਰ ਸਕਦੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਇਹਨਾਂ ਸੁਧਾਰਾਂ ਨੂੰ ਕਰਨ ਲਈ ਹੋਰ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੀ ਲੋੜ ਹੋ ਸਕਦੀ ਹੈ57, 59, 60, 61। ਆਮ CP ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ ਵਿੱਚ ਵੱਡੇ ਵਿਵਹਾਰਾਂ ਵਾਲੇ ਕੰਟੀਲੀਵਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ। ਨਰਮ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰੋ, ਜੋ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਵੱਡੇ ਵਿਵਹਾਰ 62,63,64 'ਤੇ ਕੈਨਟੀਲੀਵਰ ਦੇ ਗੈਰ-ਲੀਨੀਅਰ ਵਿਵਹਾਰ ਨੂੰ ਕੈਲੀਬ੍ਰੇਟ ਕਰਨ ਵੇਲੇ ਇੱਕ ਹੋਰ ਸਮੱਸਿਆ ਪੈਦਾ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਆਧੁਨਿਕ ਕੋਲੋਇਡਲ ਪ੍ਰੋਬ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀਆਂ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਜਾਂਚ ਨੂੰ ਕੈਲੀਬਰੇਟ ਕਰਨ ਲਈ ਵਰਤੇ ਜਾਂਦੇ ਕੰਟੀਲੀਵਰ ਦੀ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖਦੀਆਂ ਹਨ, ਪਰ ਕੋਲੋਇਡਲ ਕਣਾਂ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਨੂੰ ਨਜ਼ਰਅੰਦਾਜ਼ ਕਰਦੀਆਂ ਹਨ, ਜੋ ਵਿਧੀ38,61 ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਵਿੱਚ ਵਾਧੂ ਅਨਿਸ਼ਚਿਤਤਾ ਪੈਦਾ ਕਰਦੀਆਂ ਹਨ।ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਲ ਫਿਟਿੰਗ ਦੁਆਰਾ ਗਿਣਿਆ ਗਿਆ ਲਚਕੀਲਾ ਮੋਡੂਲੀ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਜਿਓਮੈਟਰੀ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਟਿਪ ਅਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਸਤਹ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਬੇਮੇਲ ਹੋਣ ਕਾਰਨ 27, 65, 66, 67, 68 ਅਸ਼ੁੱਧੀਆਂ ਹੋ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ। ਸਪੈਂਸਰ ਐਟ ਅਲ ਦੁਆਰਾ ਕੁਝ ਤਾਜ਼ਾ ਕੰਮ।CP-AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਨਰਮ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਕਰਦੇ ਸਮੇਂ ਉਹਨਾਂ ਕਾਰਕਾਂ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ ਜੋ ਉਜਾਗਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ।ਉਹਨਾਂ ਨੇ ਰਿਪੋਰਟ ਕੀਤੀ ਕਿ ਸਪੀਡ ਦੇ ਇੱਕ ਕਾਰਜ ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਲੇਸਦਾਰ ਤਰਲ ਨੂੰ ਬਣਾਈ ਰੱਖਣ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਹੈੱਡ ਲੋਡਿੰਗ ਵਿੱਚ ਵਾਧਾ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਇਸਲਈ ਸਪੀਡ ਨਿਰਭਰ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੇ ਵੱਖ ਵੱਖ ਮਾਪ 30,69,70,71 ਹੁੰਦੇ ਹਨ।
ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ, ਅਸੀਂ ਇੱਕ ਸੰਸ਼ੋਧਿਤ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਅਲਟਰਾ-ਨਰਮ ਉੱਚ ਲਚਕੀਲੇ ਪਦਾਰਥ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਸੀਐਲ ਦੇ ਸਤਹ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਕੀਤੀ ਹੈ।ਇਸ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਅਤੇ ਨਵੀਂ ਬਣਤਰ ਦੇ ਮੱਦੇਨਜ਼ਰ, ਰਵਾਇਤੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਰੇਂਜ ਇਸ ਬਹੁਤ ਹੀ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਸਪੱਸ਼ਟ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਾਕਾਫ਼ੀ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਉੱਚ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਅਤੇ ਘੱਟ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ ਜ਼ਰੂਰੀ ਹੈ।ਪੱਧਰ।ਮੌਜੂਦਾ ਕੋਲੋਇਡਲ AFM ਪ੍ਰੋਬ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੀਆਂ ਕਮੀਆਂ ਅਤੇ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਦੀ ਸਮੀਖਿਆ ਕਰਨ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਅਸੀਂ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹਾਂ ਕਿ ਅਸੀਂ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ, ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ, ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਪੁਆਇੰਟ ਪੁਆਇੰਟ, ਤਰਲ ਧਾਰਨ ਵਰਗੀਆਂ ਨਰਮ ਵਿਭਿੰਨ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੇ ਵੇਗ ਮਾਡੂਲਸ ਨੂੰ ਖਤਮ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਛੋਟੀ, ਕਸਟਮ-ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਕੀਤੀ AFM ਜਾਂਚ ਕਿਉਂ ਚੁਣੀ। ਨਿਰਭਰਤਾਅਤੇ ਸਹੀ ਮਾਤਰਾ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਅਸੀਂ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਮਾਪਾਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪਣ ਦੇ ਯੋਗ ਸੀ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਅਸੀਂ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਨਾਲ ਟਿਪ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਖੇਤਰ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕੀਤੇ ਬਿਨਾਂ ਲਚਕੀਲੇਪਣ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਫਿਟ ਮਾਡਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਾਂ।ਇਸ ਕੰਮ ਵਿੱਚ ਮਾਪਣ ਵਾਲੀਆਂ ਦੋ ਅਪ੍ਰਤੱਖ ਧਾਰਨਾਵਾਂ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਲਚਕੀਲੇ ਪਦਾਰਥ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਅਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ-ਸੁਤੰਤਰ ਮਾਡਿਊਲਸ ਹਨ।ਇਸ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ, ਅਸੀਂ ਪਹਿਲਾਂ ਵਿਧੀ ਦੀ ਮਾਤਰਾ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਜਾਣੇ-ਪਛਾਣੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨਾਲ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕੀਤੀ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਇਸ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਦੋ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਕੀਤੀ।ਵਧੀ ਹੋਈ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਦੇ ਨਾਲ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਸਤਹਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਦਾ ਇਹ ਤਰੀਕਾ ਮੈਡੀਕਲ ਉਪਕਰਣਾਂ ਅਤੇ ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਵਿੱਚ ਸੰਭਾਵੀ ਵਰਤੋਂ ਦੇ ਨਾਲ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਵਿਪਰੀਤ ਅਲਟਰਾਸਾਫਟ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ 'ਤੇ ਲਾਗੂ ਹੋਣ ਦੀ ਉਮੀਦ ਹੈ।
ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਕਾਂਟੈਕਟ ਲੈਂਸ (ਐਲਕਨ, ਫੋਰਟ ਵਰਥ, ਟੈਕਸਾਸ, ਯੂਐਸਏ) ਅਤੇ ਉਹਨਾਂ ਦੇ ਸਿਲੀਕੋਨ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਸਬਸਟਰੇਟਾਂ ਨੂੰ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ ਲਈ ਚੁਣਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਪ੍ਰਯੋਗ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਤੌਰ 'ਤੇ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਕੀਤੇ ਲੈਂਸ ਮਾਊਂਟ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ।ਜਾਂਚ ਲਈ ਲੈਂਸ ਨੂੰ ਸਥਾਪਿਤ ਕਰਨ ਲਈ, ਇਸਨੂੰ ਧਿਆਨ ਨਾਲ ਗੁੰਬਦ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਸਟੈਂਡ 'ਤੇ ਰੱਖਿਆ ਗਿਆ ਸੀ, ਇਹ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਂਦੇ ਹੋਏ ਕਿ ਕੋਈ ਹਵਾ ਦੇ ਬੁਲਬੁਲੇ ਅੰਦਰ ਨਹੀਂ ਆਏ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਕਿਨਾਰਿਆਂ ਨਾਲ ਫਿਕਸ ਕੀਤਾ ਗਿਆ।ਲੈਂਸ ਧਾਰਕ ਦੇ ਸਿਖਰ 'ਤੇ ਫਿਕਸਚਰ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਮੋਰੀ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ ਲਈ ਲੈਂਸ ਦੇ ਆਪਟੀਕਲ ਕੇਂਦਰ ਤੱਕ ਪਹੁੰਚ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ ਜਦੋਂ ਕਿ ਤਰਲ ਨੂੰ ਜਗ੍ਹਾ ਵਿੱਚ ਰੱਖਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।ਇਹ ਲੈਂਸ ਨੂੰ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਹਾਈਡਰੇਟ ਰੱਖਦਾ ਹੈ।500 μl ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਪੈਕੇਜਿੰਗ ਹੱਲ ਇੱਕ ਟੈਸਟ ਹੱਲ ਵਜੋਂ ਵਰਤਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਤਸਦੀਕ ਕਰਨ ਲਈ, ਵਪਾਰਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉਪਲਬਧ ਗੈਰ-ਐਕਟੀਵੇਟਿਡ ਪੋਲੀਐਕਰੀਲਾਮਾਈਡ (PAAM) ਹਾਈਡ੍ਰੋਜਲ ਪੌਲੀਐਕਰੀਲਾਮਾਈਡ-ਕੋ-ਮਿਥਾਈਲੀਨ-ਬਿਸਾਕਰੀਲਾਮਾਈਡ ਰਚਨਾ (100 ਮਿਲੀਮੀਟਰ ਪੈਟ੍ਰੀਸੋਫਟ ਪੈਟਰੀ ਡਿਸ਼, ਮੈਟਰੀਜਨ, ਇਰਵਿਨ, ਸੀਏ, ਯੂਐਸਏ) ਤੋਂ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਜੋ ਕਿ ਇੱਕ ਜਾਣਿਆ ਜਾਂਦਾ ਲਚਕੀਲਾ ਮਾਡਿਊਲਸ ਹੈ। kPaਫਾਸਫੇਟ ਬਫਰਡ ਖਾਰੇ ਦੀਆਂ 4-5 ਬੂੰਦਾਂ (ਲਗਭਗ 125 μl) ਵਰਤੋ (PBS from Corning Life Sciences, Tewkesbury, MA, USA) ਅਤੇ 1 ਬੂੰਦ ਓਪੀਟੀਆਈ-ਫ੍ਰੀ ਪਿਊਰਮੋਇਸਟ ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸ ਹੱਲ (ਐਲਕਨ, ਵੌਡ, ਟੀਐਕਸ, ਯੂਐਸਏ) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ।) AFM ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ-ਪ੍ਰੋਬ ਇੰਟਰਫੇਸ 'ਤੇ।
Lehfilcon A CL ਅਤੇ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟਸ ਦੇ ਨਮੂਨੇ ਇੱਕ ਸਕੈਨਿੰਗ ਟਰਾਂਸਮਿਸ਼ਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ (STEM) ਡਿਟੈਕਟਰ ਨਾਲ ਲੈਸ ਇੱਕ FEI ਕੁਆਂਟਾ 250 ਫੀਲਡ ਐਮੀਸ਼ਨ ਸਕੈਨਿੰਗ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ (FEG SEM) ਸਿਸਟਮ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਵਿਜ਼ੁਅਲ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।ਨਮੂਨੇ ਤਿਆਰ ਕਰਨ ਲਈ, ਲੈਂਸ ਪਹਿਲਾਂ ਪਾਣੀ ਨਾਲ ਧੋਤੇ ਗਏ ਸਨ ਅਤੇ ਪਾਈ-ਆਕਾਰ ਦੇ ਪਾੜੇ ਵਿੱਚ ਕੱਟੇ ਗਏ ਸਨ।ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੇ ਹਾਈਡ੍ਰੋਫਿਲਿਕ ਅਤੇ ਹਾਈਡ੍ਰੋਫੋਬਿਕ ਕੰਪੋਨੈਂਟਸ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਇੱਕ ਅੰਤਰ ਨੂੰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ, RuO4 ਦਾ ਇੱਕ 0.10% ਸਥਿਰ ਹੱਲ ਇੱਕ ਡਾਈ ਦੇ ਤੌਰ ਤੇ ਵਰਤਿਆ ਗਿਆ ਸੀ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਨਮੂਨਿਆਂ ਨੂੰ 30 ਮਿੰਟ ਲਈ ਡੁਬੋਇਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL RuO4 ਸਟੈਨਿੰਗ ਨਾ ਸਿਰਫ ਸੁਧਾਰੀ ਵਿਭਿੰਨਤਾ ਨੂੰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ, ਸਗੋਂ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੀ ਬਣਤਰ ਨੂੰ ਉਹਨਾਂ ਦੇ ਅਸਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਰੱਖਣ ਵਿੱਚ ਵੀ ਮਦਦ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਫਿਰ STEM ਚਿੱਤਰਾਂ 'ਤੇ ਦਿਖਾਈ ਦਿੰਦੇ ਹਨ।ਫਿਰ ਉਹਨਾਂ ਨੂੰ ਈਥਾਨੋਲ/ਪਾਣੀ ਦੇ ਮਿਸ਼ਰਣਾਂ ਦੀ ਇੱਕ ਲੜੀ ਵਿੱਚ ਧੋਤਾ ਅਤੇ ਡੀਹਾਈਡਰੇਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਈਥਾਨੋਲ ਦੀ ਵੱਧ ਰਹੀ ਗਾੜ੍ਹਾਪਣ ਸੀ।ਫਿਰ ਨਮੂਨਿਆਂ ਨੂੰ EMBed 812/Araldite epoxy ਨਾਲ ਸੁੱਟਿਆ ਗਿਆ, ਜੋ ਕਿ 70°C 'ਤੇ ਰਾਤੋ ਰਾਤ ਠੀਕ ਹੋ ਗਿਆ।ਰੈਜ਼ਿਨ ਪੌਲੀਮੇਰਾਈਜ਼ੇਸ਼ਨ ਦੁਆਰਾ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਬਲਾਕਾਂ ਨੂੰ ਅਲਟਰਾਮਾਈਕ੍ਰੋਟੋਮ ਨਾਲ ਕੱਟਿਆ ਗਿਆ ਸੀ, ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਪਤਲੇ ਭਾਗਾਂ ਨੂੰ 30 kV ਦੇ ਤੇਜ਼ ਵੋਲਟੇਜ 'ਤੇ ਘੱਟ ਵੈਕਿਊਮ ਮੋਡ ਵਿੱਚ ਇੱਕ STEM ਡਿਟੈਕਟਰ ਨਾਲ ਕਲਪਨਾ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।ਉਹੀ SEM ਸਿਸਟਮ PFQNM-LC-A-CAL AFM ਪੜਤਾਲ (Bruker Nano, Santa Barbara, CA, USA) ਦੀ ਵਿਸਤ੍ਰਿਤ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ ਵਰਤਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।AFM ਪੜਤਾਲ ਦੇ SEM ਚਿੱਤਰ 30 kV ਦੀ ਇੱਕ ਤੇਜ਼ ਵੋਲਟੇਜ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਆਮ ਉੱਚ ਵੈਕਿਊਮ ਮੋਡ ਵਿੱਚ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।AFM ਪੜਤਾਲ ਟਿਪ ਦੇ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਸਾਰੇ ਵੇਰਵਿਆਂ ਨੂੰ ਰਿਕਾਰਡ ਕਰਨ ਲਈ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਕੋਣਾਂ ਅਤੇ ਵੱਡਦਰਸ਼ਿਆਂ 'ਤੇ ਚਿੱਤਰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰੋ।ਚਿੱਤਰਾਂ ਵਿੱਚ ਦਿਲਚਸਪੀ ਦੇ ਸਾਰੇ ਟਿਪ ਮਾਪਾਂ ਨੂੰ ਡਿਜੀਟਲ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਮਾਪਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।
“PeakForce QNM in Fluid” ਮੋਡ ਵਾਲਾ ਇੱਕ ਡਾਇਮੇਂਸ਼ਨ ਫਾਸਟਸਕੈਨ ਬਾਇਓ ਆਈਕਨ ਐਟੋਮਿਕ ਫੋਰਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ (ਬ੍ਰੁਕਰ ਨੈਨੋ, ਸੈਂਟਾ ਬਾਰਬਰਾ, CA, USA) ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL, SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ, ਅਤੇ PAAm ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਕਲਪਨਾ ਅਤੇ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਟ ਕਰਨ ਲਈ ਵਰਤਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਇਮੇਜਿੰਗ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ ਲਈ, 0.50 Hz ਦੀ ਸਕੈਨ ਦਰ 'ਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਉੱਚ ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ ਚਿੱਤਰਾਂ ਨੂੰ ਕੈਪਚਰ ਕਰਨ ਲਈ 1 nm ਦੇ ਮਾਮੂਲੀ ਟਿਪ ਰੇਡੀਅਸ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ PEAKFORCE-HIRS-FA ਪੜਤਾਲ (Bruker) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ।ਸਾਰੀਆਂ ਤਸਵੀਰਾਂ ਜਲਮਈ ਘੋਲ ਵਿੱਚ ਲਈਆਂ ਗਈਆਂ ਸਨ।
AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗ ਇੱਕ PFQNM-LC-A-CAL ਪੜਤਾਲ (ਬਰੂਕਰ) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।AFM ਪੜਤਾਲ ਵਿੱਚ 45 kHz ਦੀ ਗੂੰਜਦੀ ਬਾਰੰਬਾਰਤਾ ਦੇ ਨਾਲ 345 nm ਮੋਟੀ, 54 µm ਲੰਬੀ ਅਤੇ 4.5 µm ਚੌੜੀ ਨਾਈਟ੍ਰਾਈਡ ਕੈਂਟੀਲੀਵਰ ਉੱਤੇ ਇੱਕ ਸਿਲੀਕਾਨ ਟਿਪ ਹੈ।ਇਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਰਮ ਜੀਵ-ਵਿਗਿਆਨਕ ਨਮੂਨਿਆਂ 'ਤੇ ਗੁਣਾਤਮਕ ਨੈਨੋਮਕੈਨੀਕਲ ਮਾਪਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਅਤੇ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਕਰਨ ਲਈ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ।ਸੈਂਸਰਾਂ ਨੂੰ ਫੈਕਟਰੀ ਵਿੱਚ ਪੂਰਵ-ਕੈਲੀਬਰੇਟਡ ਸਪਰਿੰਗ ਸੈਟਿੰਗਾਂ ਨਾਲ ਵੱਖਰੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੈਲੀਬਰੇਟ ਕੀਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ।ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਵਰਤੀਆਂ ਗਈਆਂ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੇ ਸਪਰਿੰਗ ਸਥਿਰਾਂਕ 0.05–0.1 N/m ਦੀ ਰੇਂਜ ਵਿੱਚ ਸਨ।ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ, SEM ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਪੜਤਾਲ ਨੂੰ ਵਿਸਥਾਰ ਵਿੱਚ ਦਰਸਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਅੰਜੀਰ 'ਤੇ.ਚਿੱਤਰ 1a ਇੱਕ ਉੱਚ ਰੈਜ਼ੋਲਿਊਸ਼ਨ, PFQNM-LC-A-CAL ਪੜਤਾਲ ਦਾ ਘੱਟ ਵਿਸਤਾਰ ਸਕੈਨਿੰਗ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਪੜਤਾਲ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਦਾ ਇੱਕ ਸੰਪੂਰਨ ਦ੍ਰਿਸ਼ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਅੰਜੀਰ 'ਤੇ.1b ਜਾਂਚ ਟਿਪ ਦੇ ਸਿਖਰ ਦਾ ਇੱਕ ਵੱਡਾ ਦ੍ਰਿਸ਼ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ, ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਬਾਰੇ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਅਤਿਅੰਤ ਸਿਰੇ 'ਤੇ, ਸੂਈ ਲਗਭਗ 140 nm ਵਿਆਸ (ਚਿੱਤਰ 1c) ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਗੋਲਾਕਾਰ ਹੈ।ਇਸਦੇ ਹੇਠਾਂ, ਟਿਪ ਇੱਕ ਕੋਨਿਕ ਆਕਾਰ ਵਿੱਚ ਟੇਪਰ ਹੋ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਲਗਭਗ 500 nm ਦੀ ਮਾਪੀ ਗਈ ਲੰਬਾਈ ਤੱਕ ਪਹੁੰਚਦੀ ਹੈ।ਟੇਪਰਿੰਗ ਖੇਤਰ ਦੇ ਬਾਹਰ, ਟਿਪ ਬੇਲਨਾਕਾਰ ਹੈ ਅਤੇ ਕੁੱਲ ਟਿਪ ਦੀ ਲੰਬਾਈ 1.18 µm ਵਿੱਚ ਸਮਾਪਤ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।ਇਹ ਪੜਤਾਲ ਟਿਪ ਦਾ ਮੁੱਖ ਕਾਰਜਸ਼ੀਲ ਹਿੱਸਾ ਹੈ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, 45 µm ਦੇ ਟਿਪ ਵਿਆਸ ਅਤੇ 2 N/m ਦੀ ਸਪਰਿੰਗ ਸਥਿਰਤਾ ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਵੱਡੀ ਗੋਲਾਕਾਰ ਪੋਲੀਸਟੀਰੀਨ (PS) ਪੜਤਾਲ (ਨੋਵਾਸਕੈਨ ਟੈਕਨੋਲੋਜੀਜ਼, ਇੰਕ., ਬੂਨੇ, ਆਇਓਵਾ, ਯੂਐਸਏ) ਵੀ ਕੋਲੋਇਡਲ ਜਾਂਚ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਜਾਂਚ ਲਈ ਵਰਤੀ ਗਈ ਸੀ।ਤੁਲਨਾ ਲਈ PFQNM-LC-A-CAL 140 nm ਪੜਤਾਲ ਦੇ ਨਾਲ।
ਇਹ ਰਿਪੋਰਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ ਕਿ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਦੌਰਾਨ ਤਰਲ ਨੂੰ AFM ਪੜਤਾਲ ਅਤੇ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਢਾਂਚੇ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਫਸਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ AFM ਪੜਤਾਲ 'ਤੇ ਅਸਲ ਵਿੱਚ ਸਤਹ69 ਨੂੰ ਛੂਹਣ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਇੱਕ ਉੱਪਰ ਵੱਲ ਜ਼ੋਰ ਦੇਵੇਗਾ।ਤਰਲ ਧਾਰਨ ਦੇ ਕਾਰਨ ਇਹ ਲੇਸਦਾਰ ਐਕਸਟਰਿਊਸ਼ਨ ਪ੍ਰਭਾਵ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਬਦਲ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਸਤਹ ਮਾਡਿਊਲਸ ਮਾਪਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਤਰਲ ਧਾਰਨ 'ਤੇ ਪੜਤਾਲ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਅਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੀਡ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ, 1 µm/s ਅਤੇ 2 µm/s ਦੀ ਸਥਿਰ ਵਿਸਥਾਪਨ ਦਰਾਂ 'ਤੇ 140 nm ਵਿਆਸ ਦੀ ਜਾਂਚ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਨਮੂਨਿਆਂ ਲਈ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਕਰਵ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।ਪੜਤਾਲ ਵਿਆਸ 45 µm, ਸਥਿਰ ਬਲ ਸੈਟਿੰਗ 6 nN 1 µm/s 'ਤੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੀ ਗਈ।ਵਿਆਸ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਪੜਤਾਲ 140 nm ਦੇ ਨਾਲ ਪ੍ਰਯੋਗ 1 µm/s ਦੀ ਇੱਕ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੀਡ ਅਤੇ 300 pN ਦੇ ਇੱਕ ਸੈੱਟ ਬਲ ਨਾਲ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਜੋ ਉੱਪਰੀ ਪਲਕ ਦੀ ਸਰੀਰਕ ਸੀਮਾ (1–8 kPa) ਦੇ ਅੰਦਰ ਇੱਕ ਸੰਪਰਕ ਦਬਾਅ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਚੁਣਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਦਬਾਅ 72. 1 kPa ਦੇ ਦਬਾਅ ਵਾਲੇ PAA ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਦੇ ਨਰਮ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਨੂੰ 140 nm ਦੇ ਵਿਆਸ ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਜਾਂਚ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ 1 μm/s ਦੀ ਗਤੀ ਨਾਲ 50 pN ਦੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਲਈ ਟੈਸਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।
ਕਿਉਂਕਿ PFQNM-LC-A-CAL ਪੜਤਾਲ ਦੇ ਸਿਰੇ ਦੇ ਕੋਨਿਕਲ ਹਿੱਸੇ ਦੀ ਲੰਬਾਈ ਲਗਭਗ 500 nm ਹੈ, ਕਿਸੇ ਵੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ < 500 nm ਲਈ ਇਹ ਸੁਰੱਖਿਅਤ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮੰਨਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਕਿ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੌਰਾਨ ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਇਸਦੇ ਲਈ ਸਹੀ ਰਹੇਗੀ। ਕੋਨ ਸ਼ਕਲ.ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਇਹ ਮੰਨਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ ਕਿ ਟੈਸਟ ਦੇ ਅਧੀਨ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਸਤਹ ਇੱਕ ਉਲਟ ਲਚਕੀਲਾ ਪ੍ਰਤੀਕ੍ਰਿਆ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕਰੇਗੀ, ਜਿਸਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਹੇਠਲੇ ਭਾਗਾਂ ਵਿੱਚ ਵੀ ਕੀਤੀ ਜਾਵੇਗੀ।ਇਸ ਲਈ, ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦੇ ਹੋਏ, ਅਸੀਂ ਸਾਡੇ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ (ਨੈਨੋਸਕੋਪ) ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਕਰਨ ਲਈ, ਬ੍ਰਿਸਕੋ, ਸੇਬੇਸਟੀਅਨ ਅਤੇ ਐਡਮਜ਼ ਦੁਆਰਾ ਵਿਕਸਤ ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਫਿਟਿੰਗ ਮਾਡਲ ਨੂੰ ਚੁਣਿਆ, ਜੋ ਕਿ ਵਿਕਰੇਤਾ ਦੇ ਸੌਫਟਵੇਅਰ ਵਿੱਚ ਉਪਲਬਧ ਹੈ।ਵਿਭਾਜਨ ਡੇਟਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਸਾਫਟਵੇਅਰ, ਬਰੂਕਰ) 73. ਮਾਡਲ ਗੋਲਾਕਾਰ ਸਿਖਰ ਦੇ ਨੁਕਸ ਵਾਲੇ ਕੋਨ ਲਈ ਫੋਰਸ-ਡਿਸਪਲੇਸਮੈਂਟ ਸਬੰਧ F(δ) ਦਾ ਵਰਣਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਅੰਜੀਰ 'ਤੇ.ਚਿੱਤਰ 2 ਇੱਕ ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਸਖ਼ਤ ਕੋਨ ਦੇ ਪਰਸਪਰ ਕ੍ਰਿਆ ਦੌਰਾਨ ਸੰਪਰਕ ਰੇਖਾਗਣਿਤ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ, ਜਿੱਥੇ R ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਦਾ ਘੇਰਾ ਹੈ, a ਸੰਪਰਕ ਰੇਡੀਅਸ ਹੈ, b ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਦੇ ਅੰਤ ਵਿੱਚ ਸੰਪਰਕ ਰੇਡੀਅਸ ਹੈ, δ ਹੈ। ਸੰਪਰਕ ਘੇਰੇ.ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ, θ ਕੋਨ ਦਾ ਅੱਧਾ-ਕੋਣ ਹੈ।ਇਸ ਪੜਤਾਲ ਦਾ SEM ਚਿੱਤਰ ਸਪੱਸ਼ਟ ਤੌਰ 'ਤੇ ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ ਕਿ 140 nm ਵਿਆਸ ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਇੱਕ ਕੋਨ ਵਿੱਚ ਸਪਰਸ਼ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਅਭੇਦ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਇਸਲਈ ਇੱਥੇ b ਨੂੰ ਸਿਰਫ਼ R ਦੁਆਰਾ ਪਰਿਭਾਸ਼ਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ, ਭਾਵ b = R cos θ।ਵਿਕਰੇਤਾ ਦੁਆਰਾ ਸਪਲਾਈ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੌਫਟਵੇਅਰ ਇੱਕ > b ਮੰਨਦੇ ਹੋਏ ਬਲ ਵਿਭਾਜਨ ਡੇਟਾ ਤੋਂ ਯੰਗ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ (E) ਮੁੱਲਾਂ ਦੀ ਗਣਨਾ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਕੋਨ-ਗੋਲਾ ਸਬੰਧ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਰਿਸ਼ਤਾ:
ਜਿੱਥੇ F ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਹੈ, E ਯੰਗ ਦਾ ਮਾਡਿਊਲਸ ਹੈ, ν ਪੋਇਸਨ ਦਾ ਅਨੁਪਾਤ ਹੈ।ਸੰਪਰਕ ਘੇਰੇ a ਦਾ ਅੰਦਾਜ਼ਾ ਇਸ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਲਗਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ:
ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੀ ਸਤਹ ਪਰਤ ਦੇ ਨਾਲ ਲੇਫਿਲਕਨ ਸੰਪਰਕ ਲੈਨਜ ਦੀ ਸਮੱਗਰੀ ਵਿੱਚ ਦਬਾਏ ਗਏ ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਸਖ਼ਤ ਕੋਨ ਦੀ ਸੰਪਰਕ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਦੀ ਯੋਜਨਾ।
ਜੇਕਰ ਇੱਕ ≤ b, ਸਬੰਧ ਇੱਕ ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਗੋਲਾਕਾਰ ਇੰਡੈਂਟਰ ਲਈ ਸਮੀਕਰਨ ਨੂੰ ਘਟਾਉਂਦਾ ਹੈ;
ਸਾਡਾ ਮੰਨਣਾ ਹੈ ਕਿ ਪੀਐਮਪੀਸੀ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੀ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਬਣਤਰ ਦੇ ਨਾਲ ਇੰਡੈਂਟਿੰਗ ਪੜਤਾਲ ਦਾ ਪਰਸਪਰ ਪ੍ਰਭਾਵ ਗੋਲਾਕਾਰ ਸੰਪਰਕ ਰੇਡੀਅਸ b ਨਾਲੋਂ ਸੰਪਰਕ ਘੇਰੇ a ਨੂੰ ਵੱਡਾ ਕਰੇਗਾ।ਇਸ ਲਈ, ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਕੀਤੇ ਗਏ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੇ ਸਾਰੇ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਮਾਪਾਂ ਲਈ, ਅਸੀਂ ਕੇਸ a > b ਲਈ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੀ ਨਿਰਭਰਤਾ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕੀਤੀ।
ਇਸ ਅਧਿਐਨ ਵਿੱਚ ਅਧਿਐਨ ਕੀਤੇ ਗਏ ਅਲਟਰਾਸਾਫਟ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਾਮੱਗਰੀ ਨੂੰ ਨਮੂਨਾ ਕਰਾਸ ਸੈਕਸ਼ਨ ਦੇ ਸਕੈਨਿੰਗ ਟ੍ਰਾਂਸਮਿਸ਼ਨ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (STEM) ਅਤੇ ਸਤਹ ਦੀ ਪਰਮਾਣੂ ਫੋਰਸ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪੀ (AFM) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਵਿਆਪਕ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਚਿੱਤਰਿਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਇਹ ਵਿਸਤ੍ਰਿਤ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਸਾਡੇ ਪਹਿਲਾਂ ਪ੍ਰਕਾਸ਼ਿਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਕੰਮ ਦੇ ਵਿਸਤਾਰ ਵਜੋਂ ਕੀਤੀ ਗਈ ਸੀ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਅਸੀਂ ਇਹ ਨਿਰਧਾਰਿਤ ਕੀਤਾ ਹੈ ਕਿ ਪੀਐਮਪੀਸੀ-ਸੰਸ਼ੋਧਿਤ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਸੀਐਲ ਸਤਹ ਦੀ ਗਤੀਸ਼ੀਲ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰਿਕ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਨੇ ਮੂਲ ਕੋਰਨੀਅਲ ਟਿਸ਼ੂ 14 ਦੇ ਸਮਾਨ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕੀਤਾ ਹੈ।ਇਸ ਕਾਰਨ ਕਰਕੇ, ਅਸੀਂ ਕਾਂਟੈਕਟ ਲੈਂਸ ਸਤਹਾਂ ਨੂੰ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਮੱਗਰੀ 14 ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਕਹਿੰਦੇ ਹਾਂ।ਅੰਜੀਰ 'ਤੇ.3a,b ਕ੍ਰਮਵਾਰ ਇੱਕ ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਸਬਸਟਰੇਟ ਅਤੇ ਇੱਕ ਅਣਇੱਛਤ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ PMPC ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਢਾਂਚੇ ਦੇ ਕਰਾਸ ਸੈਕਸ਼ਨ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹਨ।ਦੋਵਾਂ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਦਾ ਉੱਚ-ਰੈਜ਼ੋਲੂਸ਼ਨ AFM ਚਿੱਤਰਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਹੋਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ, ਜਿਸ ਨੇ ਅੱਗੇ STEM ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ (Fig. 3c, d) ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕੀਤੀ ਸੀ।ਇਕੱਠੇ ਲਏ ਗਏ, ਇਹ ਚਿੱਤਰ 300-400 nm 'ਤੇ PMPC ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਢਾਂਚੇ ਦੀ ਲਗਭਗ ਲੰਬਾਈ ਦਿੰਦੇ ਹਨ, ਜੋ ਕਿ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਮਾਪਾਂ ਦੀ ਵਿਆਖਿਆ ਕਰਨ ਲਈ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ।ਚਿੱਤਰਾਂ ਤੋਂ ਲਿਆ ਗਿਆ ਇੱਕ ਹੋਰ ਮੁੱਖ ਨਿਰੀਖਣ ਇਹ ਹੈ ਕਿ CL ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਸਮੁੱਚੀ ਸਤਹ ਬਣਤਰ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ ਸਮੱਗਰੀ ਤੋਂ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨਿਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵੱਖਰੀ ਹੈ।ਉਹਨਾਂ ਦੀ ਸਤਹ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਵਿੱਚ ਇਹ ਅੰਤਰ ਇੰਡੈਂਟਿੰਗ AFM ਪੜਤਾਲ ਦੇ ਨਾਲ ਉਹਨਾਂ ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਪਰਸਪਰ ਕ੍ਰਿਆ ਦੌਰਾਨ ਅਤੇ ਬਾਅਦ ਵਿੱਚ ਮਾਪੇ ਮਾਡੂਲਸ ਮੁੱਲਾਂ ਵਿੱਚ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ।
(a) lehfilcon A CL ਅਤੇ (b) SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੇ ਕਰਾਸ-ਸੈਕਸ਼ਨਲ STEM ਚਿੱਤਰ।ਸਕੇਲ ਬਾਰ, 500 ਐੱਨ.ਐੱਮ.ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਸਬਸਟਰੇਟ (c) ਅਤੇ ਬੇਸ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ (d) (3 µm × 3 µm) ਦੀ ਸਤਹ ਦੇ AFM ਚਿੱਤਰ।
ਬਾਇਓਇਨਸਪਾਇਰਡ ਪੋਲੀਮਰ ਅਤੇ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਕੁਦਰਤੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਰਮ ਹੁੰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ 74,75,76,77 ਵਿੱਚ ਵਿਆਪਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਅਧਿਐਨ ਅਤੇ ਵਰਤੇ ਜਾਂਦੇ ਹਨ।ਇਸ ਲਈ, AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ, ਜੋ ਉਹਨਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਅਤੇ ਭਰੋਸੇਯੋਗ ਢੰਗ ਨਾਲ ਮਾਪ ਸਕਦਾ ਹੈ।ਪਰ ਉਸੇ ਸਮੇਂ, ਇਹਨਾਂ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਪਦਾਰਥਾਂ ਦੀਆਂ ਵਿਲੱਖਣ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਬਹੁਤ ਘੱਟ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ, ਉੱਚ ਤਰਲ ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਉੱਚ ਲਚਕੀਲੇਪਣ, ਅਕਸਰ ਇੰਡੈਂਟਿੰਗ ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਸਹੀ ਸਮੱਗਰੀ, ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਦੀ ਚੋਣ ਕਰਨਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਬਣਾਉਂਦੇ ਹਨ।ਆਕਾਰ.ਇਹ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ ਤਾਂ ਕਿ ਇੰਡੈਂਟਰ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਨਰਮ ਸਤਹ ਨੂੰ ਵਿੰਨ੍ਹ ਨਾ ਜਾਵੇ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਸਤਹ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂ ਅਤੇ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਖੇਤਰ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਗਲਤੀਆਂ ਹੋ ਸਕਦੀਆਂ ਹਨ।
ਇਸਦੇ ਲਈ, ਅਲਟਰਾ-ਨਰਮ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਪਦਾਰਥਾਂ (ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਸੀਐਲ) ਦੇ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਦੀ ਇੱਕ ਵਿਆਪਕ ਸਮਝ ਜ਼ਰੂਰੀ ਹੈ।ਇਮੇਜਿੰਗ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਬਣਤਰ ਬਾਰੇ ਜਾਣਕਾਰੀ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਤਕਨੀਕਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਸਤਹ ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ ਆਧਾਰ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੀ ਹੈ।ਮਾਈਕ੍ਰੋਨ-ਆਕਾਰ ਦੇ ਗੋਲਾਕਾਰ ਕੋਲੋਇਡਲ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੀ ਬਜਾਏ, ਅਸੀਂ 140 nm ਦੇ ਟਿਪ ਵਿਆਸ ਦੇ ਨਾਲ PFQNM-LC-A-CAL ਸਿਲੀਕਾਨ ਨਾਈਟਰਾਈਡ ਪੜਤਾਲ (ਬਰੂਕਰ) ਨੂੰ ਚੁਣਿਆ, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਜੈਵਿਕ ਨਮੂਨੇ 78, 79, 78 ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਮੈਪਿੰਗ ਲਈ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ। , 81, 82, 83, 84 ਪਰੰਪਰਾਗਤ ਕੋਲੋਇਡਲ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਤਿੱਖੀ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੇ ਤਰਕ ਨੂੰ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀਆਂ ਢਾਂਚਾਗਤ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੁਆਰਾ ਸਮਝਾਇਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।ਚਿੱਤਰ 3a ਵਿੱਚ ਦਰਸਾਏ ਗਏ CL ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਦੀ ਸਤਹ 'ਤੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਨਾਲ ਪੜਤਾਲ ਟਿਪ ਦੇ ਆਕਾਰ (~140 nm) ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਕਰਦੇ ਹੋਏ, ਇਹ ਸਿੱਟਾ ਕੱਢਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਕਿ ਇਹ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰਾਂ ਦੇ ਸਿੱਧੇ ਸੰਪਰਕ ਵਿੱਚ ਆਉਣ ਲਈ ਟਿਪ ਇੰਨੀ ਵੱਡੀ ਹੈ, ਜੋ ਉਹਨਾਂ ਦੁਆਰਾ ਟਿਪ ਨੂੰ ਵਿੰਨ੍ਹਣ ਦੀ ਸੰਭਾਵਨਾ ਨੂੰ ਘਟਾਉਂਦਾ ਹੈ।ਇਸ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ, ਚਿੱਤਰ 4 ਵਿੱਚ ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਦਾ ਇੱਕ STEM ਚਿੱਤਰ ਹੈ ਅਤੇ AFM ਪੜਤਾਲ (ਸਕੇਲ ਵੱਲ ਖਿੱਚਿਆ ਗਿਆ) ਦਾ ਇੰਡੈਂਟਿੰਗ ਟਿਪ ਹੈ।
lehfilcon A CL ਅਤੇ ACM ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਪੜਤਾਲ (ਸਕੇਲ ਵੱਲ ਖਿੱਚੀ ਗਈ) ਦਾ STEM ਚਿੱਤਰ ਦਿਖਾ ਰਿਹਾ ਯੋਜਨਾਬੱਧ।
ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, CP-AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ 69,71 ਦੁਆਰਾ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਲਈ ਪਹਿਲਾਂ ਰਿਪੋਰਟ ਕੀਤੇ ਗਏ ਕਿਸੇ ਵੀ ਸਟਿੱਕੀ ਐਕਸਟਰਿਊਸ਼ਨ ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਦੇ ਜੋਖਮ ਤੋਂ ਬਚਣ ਲਈ 140 nm ਦੀ ਟਿਪ ਦਾ ਆਕਾਰ ਕਾਫ਼ੀ ਛੋਟਾ ਹੈ।ਅਸੀਂ ਇਹ ਮੰਨਦੇ ਹਾਂ ਕਿ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਕੋਨ-ਗੋਲਾਕਾਰ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਇਸ AFM ਟਿਪ (ਚਿੱਤਰ 1) ਦੇ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਛੋਟੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਸੀਐਲ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਦੁਆਰਾ ਤਿਆਰ ਬਲ ਕਰਵ ਦੀ ਪ੍ਰਕਿਰਤੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੀਡ ਜਾਂ ਲੋਡਿੰਗ/ਅਨਲੋਡਿੰਗ ਸਪੀਡ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਨਹੀਂ ਕਰੇਗੀ। .ਇਸ ਲਈ, ਇਹ poroelastic ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਨਾਲ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ।ਇਸ ਪਰਿਕਲਪਨਾ ਨੂੰ ਪਰਖਣ ਲਈ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਨਮੂਨੇ ਇੱਕ PFQNM-LC-A-CAL ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਇੱਕ ਨਿਸ਼ਚਿਤ ਅਧਿਕਤਮ ਬਲ 'ਤੇ ਇੰਡੈਂਟ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਪਰ ਦੋ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਵੇਗ 'ਤੇ, ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਟੇਨਸਾਈਲ ਅਤੇ ਰਿਟਰੈਕਟ ਫੋਰਸ ਵਕਰ ਬਲ (nN) ਨੂੰ ਪਲਾਟ ਕਰਨ ਲਈ ਵਰਤੇ ਗਏ ਸਨ। ਵਿਭਾਜਨ ਵਿੱਚ (µm) ਚਿੱਤਰ 5a ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।ਇਹ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹੈ ਕਿ ਲੋਡਿੰਗ ਅਤੇ ਅਨਲੋਡਿੰਗ ਦੇ ਦੌਰਾਨ ਫੋਰਸ ਕਰਵ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਓਵਰਲੈਪ ਹੋ ਜਾਂਦੇ ਹਨ, ਅਤੇ ਇਸ ਗੱਲ ਦਾ ਕੋਈ ਸਪੱਸ਼ਟ ਸਬੂਤ ਨਹੀਂ ਹੈ ਕਿ ਜ਼ੀਰੋ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ 'ਤੇ ਫੋਰਸ ਸ਼ੀਅਰ ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੀਡ ਦੇ ਨਾਲ ਵਧਦੀ ਹੈ, ਇਹ ਸੁਝਾਅ ਦਿੰਦੀ ਹੈ ਕਿ ਵਿਅਕਤੀਗਤ ਬੁਰਸ਼ ਤੱਤ ਬਿਨਾਂ ਪੋਰੋਇਲਾਸਟਿਕ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਵਾਲੇ ਸਨ।ਇਸ ਦੇ ਉਲਟ, ਤਰਲ ਧਾਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵ (ਲੇਸਦਾਰ ਐਕਸਟਰਿਊਜ਼ਨ ਅਤੇ ਪੋਰੋਏਲੈਸਟੀਸੀਟੀ ਪ੍ਰਭਾਵ) 45 µm ਵਿਆਸ ਵਾਲੀ AFM ਪੜਤਾਲ ਲਈ ਉਸੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਸਪੀਡ 'ਤੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਹਨ ਅਤੇ ਚਿੱਤਰ 5b ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ, ਸਟ੍ਰੈਚ ਅਤੇ ਰਿਟਰੈਕਟ ਕਰਵ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਹਿਸਟਰੇਸਿਸ ਦੁਆਰਾ ਉਜਾਗਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ।ਇਹ ਨਤੀਜੇ ਪਰਿਕਲਪਨਾ ਦਾ ਸਮਰਥਨ ਕਰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਸੁਝਾਅ ਦਿੰਦੇ ਹਨ ਕਿ 140 nm ਵਿਆਸ ਦੀਆਂ ਪੜਤਾਲਾਂ ਅਜਿਹੀਆਂ ਨਰਮ ਸਤਹਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ ਇੱਕ ਵਧੀਆ ਵਿਕਲਪ ਹਨ।
lehfilcon A CL ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਵਕਰ ACM ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ;(a) ਦੋ ਲੋਡਿੰਗ ਦਰਾਂ 'ਤੇ 140 nm ਦੇ ਵਿਆਸ ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ, ਸਤਹ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੇ ਦੌਰਾਨ ਪੋਰੋਇਲੇਸਟਿਕ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦੀ ਅਣਹੋਂਦ ਦਾ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ;(b) 45 µm ਅਤੇ 140 nm ਦੇ ਵਿਆਸ ਨਾਲ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨਾ।s ਛੋਟੀਆਂ ਪੜਤਾਲਾਂ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ ਵੱਡੀਆਂ ਪੜਤਾਲਾਂ ਲਈ ਲੇਸਦਾਰ ਐਕਸਟਰਿਊਸ਼ਨ ਅਤੇ ਪੋਰੋਲੈਸਟਿਕਟੀ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ।
ਅਲਟਰਾਸਾਫਟ ਸਤਹਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ, ਅਧਿਐਨ ਅਧੀਨ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀਆਂ ਵਿੱਚ ਸਭ ਤੋਂ ਵਧੀਆ ਜਾਂਚ ਹੋਣੀ ਚਾਹੀਦੀ ਹੈ।ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, AFM ਡਿਟੈਕਟਰ ਸਿਸਟਮ ਦੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ, ਟੈਸਟ ਵਾਤਾਵਰਣ ਵਿੱਚ ਟਿਪ ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ ਪ੍ਰਤੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ, ਅਤੇ ਕੈਂਟੀਲੀਵਰ ਕਠੋਰਤਾ ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਅਤੇ ਭਰੋਸੇਯੋਗਤਾ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਭੂਮਿਕਾ ਨਿਭਾਉਂਦੀ ਹੈ।ਨਾਪ.ਸਾਡੇ AFM ਸਿਸਟਮ ਲਈ, ਖੋਜ ਦੀ ਸਥਿਤੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲ ਡਿਟੈਕਟਰ (PSD) ਸੀਮਾ ਲਗਭਗ 0.5 mV ਹੈ ਅਤੇ ਇਹ ਪ੍ਰੀ-ਕੈਲੀਬਰੇਟਡ ਸਪਰਿੰਗ ਰੇਟ ਅਤੇ PFQNM-LC-A-CAL ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਗਣਨਾ ਕੀਤੀ ਤਰਲ ਡਿਫਲੈਕਸ਼ਨ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ 'ਤੇ ਅਧਾਰਤ ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਸਿਧਾਂਤਕ ਲੋਡ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ.0.1 pN ਤੋਂ ਘੱਟ ਹੈ।ਇਸ ਲਈ, ਇਹ ਵਿਧੀ ਬਿਨਾਂ ਕਿਸੇ ਪੈਰੀਫਿਰਲ ਸ਼ੋਰ ਕੰਪੋਨੈਂਟ ਦੇ ਇੱਕ ਘੱਟੋ-ਘੱਟ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ≤ 0.1 pN ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਦੀ ਆਗਿਆ ਦਿੰਦੀ ਹੈ।ਹਾਲਾਂਕਿ, ਇੱਕ AFM ਸਿਸਟਮ ਲਈ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਾਈਬ੍ਰੇਸ਼ਨ ਅਤੇ ਤਰਲ ਗਤੀਸ਼ੀਲਤਾ ਵਰਗੇ ਕਾਰਕਾਂ ਦੇ ਕਾਰਨ ਪੈਰੀਫਿਰਲ ਸ਼ੋਰ ਨੂੰ ਇਸ ਪੱਧਰ ਤੱਕ ਘਟਾਉਣਾ ਲਗਭਗ ਅਸੰਭਵ ਹੈ।ਇਹ ਕਾਰਕ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਸਮੁੱਚੀ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਨੂੰ ਸੀਮਿਤ ਕਰਦੇ ਹਨ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਲਗਭਗ ≤ 10 pN ਦਾ ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਸਿਗਨਲ ਵੀ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਅਤੇ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ ਨਮੂਨੇ SEM ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ 140 nm ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਹਾਈਡਰੇਟਿਡ ਸਥਿਤੀਆਂ ਦੇ ਅਧੀਨ ਇੰਡੈਂਟ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ, ਅਤੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਫੋਰਸ ਵਕਰਾਂ ਨੂੰ ਫੋਰਸ (ਪੀਐਨ) ਅਤੇ ਦਬਾਅ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਉੱਚਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।ਵਿਭਾਜਨ ਪਲਾਟ (µm) ਨੂੰ ਚਿੱਤਰ 6a ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।SiHy ਬੇਸ ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਵਿੱਚ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਫੋਰਸ ਵਕਰ ਸਪਸ਼ਟ ਤੌਰ 'ਤੇ ਫੋਰਕਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂ ਤੋਂ ਸ਼ੁਰੂ ਹੋਣ ਵਾਲੇ ਇੱਕ ਪਰਿਵਰਤਨਸ਼ੀਲ ਪੜਾਅ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਅੰਡਰਲਾਈੰਗ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਨਾਲ ਟਿਪ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਨੂੰ ਢਲਾਨ ਦੇ ਨਿਸ਼ਾਨ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਤਿੱਖੀ ਤਬਦੀਲੀ ਨਾਲ ਖਤਮ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਬਲ ਵਕਰ ਦਾ ਇਹ ਪਰਿਵਰਤਨਸ਼ੀਲ ਹਿੱਸਾ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੇ ਸੱਚਮੁੱਚ ਲਚਕੀਲੇ ਵਿਵਹਾਰ ਨੂੰ ਉਜਾਗਰ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਤਣਾਅ ਵਕਰ ਅਤੇ ਬੁਰਸ਼ ਦੀ ਬਣਤਰ ਅਤੇ ਭਾਰੀ SiHy ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਵਿੱਚ ਵਿਪਰੀਤ ਕੰਪਰੈਸ਼ਨ ਵਕਰ ਦੇ ਨਜ਼ਦੀਕੀ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਸਬੂਤ ਹੈ।ਲੇਫਿਲਕਨ ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਕਰਦੇ ਸਮੇਂ.PCS (Fig. 3a) ਦੇ STEM ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੀ ਔਸਤ ਲੰਬਾਈ ਅਤੇ ਚਿੱਤਰ 3a ਵਿੱਚ ਅਬਸੀਸਾ ਦੇ ਨਾਲ ਇਸਦੇ ਬਲ ਵਕਰ ਨੂੰ ਵੱਖ ਕਰਨਾ।6a ਦਿਖਾਉਂਦਾ ਹੈ ਕਿ ਇਹ ਵਿਧੀ ਸਤ੍ਹਾ ਦੇ ਬਹੁਤ ਸਿਖਰ ਤੱਕ ਪਹੁੰਚਣ ਵਾਲੇ ਟਿਪ ਅਤੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਦਾ ਪਤਾ ਲਗਾਉਣ ਦੇ ਯੋਗ ਹੈ।ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਵਿਚਕਾਰ ਸੰਪਰਕ.ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਫੋਰਸ ਵਕਰਾਂ ਦਾ ਨਜ਼ਦੀਕੀ ਓਵਰਲੈਪ ਕੋਈ ਤਰਲ ਧਾਰਨ ਪ੍ਰਭਾਵ ਨਹੀਂ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ।ਇਸ ਕੇਸ ਵਿੱਚ, ਸੂਈ ਅਤੇ ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਸਤਹ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਬਿਲਕੁਲ ਕੋਈ ਅਸੰਭਵ ਨਹੀਂ ਹੈ.ਦੋ ਨਮੂਨਿਆਂ ਲਈ ਬਲ ਕਰਵ ਦੇ ਸਭ ਤੋਂ ਉੱਪਰਲੇ ਭਾਗ ਓਵਰਲੈਪ ਹੁੰਦੇ ਹਨ, ਜੋ ਸਬਸਟਰੇਟ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਸਮਾਨਤਾ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ।
(a) ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਸਬਸਟਰੇਟਸ ਅਤੇ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟਸ ਲਈ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਕਰਵ, (b) ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਥ੍ਰੈਸ਼ਹੋਲਡ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂ ਦਾ ਅੰਦਾਜ਼ਾ ਦਿਖਾਉਂਦੇ ਹੋਏ ਫੋਰਸ ਕਰਵ।
ਬਲ ਵਕਰ ਦੇ ਬਾਰੀਕ ਵੇਰਵਿਆਂ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ, ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਤਣਾਅ ਵਕਰ ਨੂੰ y-ਧੁਰੇ ਦੇ ਨਾਲ 50 pN ਦੇ ਅਧਿਕਤਮ ਬਲ ਦੇ ਨਾਲ ਚਿੱਤਰ 6b ਵਿੱਚ ਦੁਬਾਰਾ ਪਲਾਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ।ਇਹ ਗ੍ਰਾਫ਼ ਮੂਲ ਪਿਛੋਕੜ ਦੇ ਰੌਲੇ ਬਾਰੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਜਾਣਕਾਰੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਰੌਲਾ ±10 pN ਦੀ ਰੇਂਜ ਵਿੱਚ ਹੈ, ਜਿਸਦੀ ਵਰਤੋਂ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਅਤੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ ਦੀ ਗਣਨਾ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਸਾਹਿਤ ਵਿੱਚ ਦੱਸਿਆ ਗਿਆ ਹੈ, ਮਾਡਿਊਲਸ 85 ਵਰਗੀਆਂ ਪਦਾਰਥਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦਾ ਸਹੀ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰਨ ਲਈ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂਆਂ ਦੀ ਪਛਾਣ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ।ਫੋਰਸ ਕਰਵ ਡੇਟਾ ਦੀ ਆਟੋਮੈਟਿਕ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ ਨੂੰ ਸ਼ਾਮਲ ਕਰਨ ਵਾਲੀ ਇੱਕ ਪਹੁੰਚ ਨੇ ਸਾਫਟ ਸਮੱਗਰੀ86 ਲਈ ਡੇਟਾ ਫਿਟਿੰਗ ਅਤੇ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਮਾਪਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਇੱਕ ਬਿਹਤਰ ਫਿੱਟ ਦਿਖਾਇਆ ਹੈ।ਇਸ ਕੰਮ ਵਿੱਚ, ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂਆਂ ਦੀ ਸਾਡੀ ਚੋਣ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਸਧਾਰਨ ਅਤੇ ਉਦੇਸ਼ਪੂਰਨ ਹੈ, ਪਰ ਇਸ ਦੀਆਂ ਸੀਮਾਵਾਂ ਹਨ।ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਸਾਡੀ ਰੂੜ੍ਹੀਵਾਦੀ ਪਹੁੰਚ ਦੇ ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਛੋਟੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ (<100 nm) ਲਈ ਮਾਡੂਲਸ ਮੁੱਲਾਂ ਨੂੰ ਥੋੜ੍ਹਾ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਅਨੁਮਾਨਿਤ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ।ਐਲਗੋਰਿਦਮ-ਅਧਾਰਿਤ ਟੱਚਪੁਆਇੰਟ ਖੋਜ ਅਤੇ ਸਵੈਚਲਿਤ ਡੇਟਾ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਸਾਡੀ ਵਿਧੀ ਨੂੰ ਹੋਰ ਬਿਹਤਰ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਭਵਿੱਖ ਵਿੱਚ ਇਸ ਕੰਮ ਦੀ ਨਿਰੰਤਰਤਾ ਹੋ ਸਕਦੀ ਹੈ।ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ, ±10 pN ਦੇ ਕ੍ਰਮ 'ਤੇ ਅੰਦਰੂਨੀ ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਲਈ, ਅਸੀਂ ≥10 pN ਦੇ ਮੁੱਲ ਦੇ ਨਾਲ ਚਿੱਤਰ 6b ਵਿੱਚ x-ਧੁਰੇ 'ਤੇ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਪਹਿਲੇ ਡੇਟਾ ਪੁਆਇੰਟ ਵਜੋਂ ਪਰਿਭਾਸ਼ਿਤ ਕਰਦੇ ਹਾਂ।ਫਿਰ, 10 pN ਦੇ ਸ਼ੋਰ ਥ੍ਰੈਸ਼ਹੋਲਡ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ, ~ 0.27 µm ਦੇ ਪੱਧਰ 'ਤੇ ਇੱਕ ਲੰਬਕਾਰੀ ਲਾਈਨ ਸਤਹ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂ ਨੂੰ ਚਿੰਨ੍ਹਿਤ ਕਰਦੀ ਹੈ, ਜਿਸ ਤੋਂ ਬਾਅਦ ਖਿੱਚਣ ਵਾਲਾ ਵਕਰ ਉਦੋਂ ਤੱਕ ਜਾਰੀ ਰਹਿੰਦਾ ਹੈ ਜਦੋਂ ਤੱਕ ਸਬਸਟਰੇਟ ~270 nm ਦੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਨਹੀਂ ਕਰਦਾ।ਦਿਲਚਸਪ ਗੱਲ ਇਹ ਹੈ ਕਿ, ਇਮੇਜਿੰਗ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਮਾਪਿਆ ਗਿਆ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ (300–400 nm) ਦੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਅਧਾਰ ਤੇ, CL ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਦੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਥ੍ਰੈਸ਼ਹੋਲਡ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਦੇਖਿਆ ਗਿਆ ਇੱਕ ਨਮੂਨਾ ਲਗਭਗ 270 nm ਹੈ, ਜੋ ਕਿ ਬਹੁਤ ਨੇੜੇ ਹੈ STEM ਨਾਲ ਮਾਪ ਦਾ ਆਕਾਰ।ਇਹ ਨਤੀਜੇ ਇਸ ਬਹੁਤ ਹੀ ਨਰਮ ਅਤੇ ਉੱਚ ਲਚਕੀਲੇ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਢਾਂਚੇ ਦੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਲਈ AFM ਪੜਤਾਲ ਟਿਪ ਦੀ ਸ਼ਕਲ ਅਤੇ ਆਕਾਰ ਦੀ ਅਨੁਕੂਲਤਾ ਅਤੇ ਲਾਗੂ ਹੋਣ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਦੇ ਹਨ।ਇਹ ਡੇਟਾ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂਆਂ ਨੂੰ ਸੁਨਿਸ਼ਚਿਤ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਥ੍ਰੈਸ਼ਹੋਲਡ ਵਜੋਂ ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੀ ਸਾਡੀ ਵਿਧੀ ਦਾ ਸਮਰਥਨ ਕਰਨ ਲਈ ਮਜ਼ਬੂਤ ​​​​ਸਬੂਤ ਵੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ।ਇਸ ਤਰ੍ਹਾਂ, ਗਣਿਤਿਕ ਮਾਡਲਿੰਗ ਅਤੇ ਫੋਰਸ ਕਰਵ ਫਿਟਿੰਗ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੇ ਗਏ ਕੋਈ ਵੀ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਨਤੀਜੇ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਸਹੀ ਹੋਣੇ ਚਾਹੀਦੇ ਹਨ।
AFM nanoindentation ਵਿਧੀਆਂ ਦੁਆਰਾ ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਮਾਪ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਡਾਟਾ ਚੋਣ ਅਤੇ ਬਾਅਦ ਦੇ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਲਈ ਵਰਤੇ ਜਾਂਦੇ ਗਣਿਤਿਕ ਮਾਡਲਾਂ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਹਨ।ਇਸ ਲਈ, ਕਿਸੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਮਾਡਲ ਦੀ ਚੋਣ ਕਰਨ ਤੋਂ ਪਹਿਲਾਂ ਇੰਡੈਂਟਰ, ਪਦਾਰਥਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਅਤੇ ਉਹਨਾਂ ਦੇ ਪਰਸਪਰ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦੇ ਮਕੈਨਿਕਸ ਦੀ ਚੋਣ ਨਾਲ ਸਬੰਧਤ ਸਾਰੇ ਕਾਰਕਾਂ 'ਤੇ ਵਿਚਾਰ ਕਰਨਾ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ।ਇਸ ਕੇਸ ਵਿੱਚ, ਟਿਪ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਨਾਲ SEM ਮਾਈਕ੍ਰੋਗ੍ਰਾਫਸ (ਚਿੱਤਰ 1) ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਦਿੱਤੀ ਗਈ ਸੀ, ਅਤੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੇ ਅਧਾਰ ਤੇ, ਇੱਕ ਸਖ਼ਤ ਕੋਨ ਅਤੇ ਗੋਲਾਕਾਰ ਟਿਪ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਦੇ ਨਾਲ 140 nm ਵਿਆਸ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟਿੰਗ ਪੜਤਾਲ ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ CL79 ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਲਈ ਇੱਕ ਵਧੀਆ ਵਿਕਲਪ ਹੈ। .ਇਕ ਹੋਰ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਕਾਰਕ ਜਿਸਦਾ ਧਿਆਨ ਨਾਲ ਮੁਲਾਂਕਣ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੈ ਉਹ ਹੈ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਜਾ ਰਹੇ ਪੌਲੀਮਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਲਚਕਤਾ।ਹਾਲਾਂਕਿ ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ (ਅੰਜੀਰ 5a ਅਤੇ 6a) ਦੇ ਸ਼ੁਰੂਆਤੀ ਡੇਟਾ ਤਣਾਅ ਅਤੇ ਸੰਕੁਚਨ ਕਰਵ ਦੇ ਓਵਰਲੈਪਿੰਗ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਸਪਸ਼ਟ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ, ਭਾਵ, ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਪੂਰੀ ਲਚਕੀਲੀ ਰਿਕਵਰੀ, ਸੰਪਰਕਾਂ ਦੇ ਸ਼ੁੱਧ ਲਚਕੀਲੇ ਸੁਭਾਅ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਨਾ ਬਹੁਤ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ। .ਇਸ ਲਈ, ਪੂਰੀ ਹਾਈਡਰੇਸ਼ਨ ਹਾਲਤਾਂ ਵਿੱਚ 1 µm/s ਦੀ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦਰ 'ਤੇ lehfilcon A CL ਨਮੂਨੇ ਦੀ ਸਤਹ 'ਤੇ ਇੱਕੋ ਥਾਂ 'ਤੇ ਦੋ ਲਗਾਤਾਰ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।ਨਤੀਜੇ ਵਜੋਂ ਬਲ ਕਰਵ ਡੇਟਾ ਅੰਜੀਰ ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।7 ਅਤੇ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਉਮੀਦ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ, ਦੋ ਪ੍ਰਿੰਟਸ ਦੇ ਵਿਸਤਾਰ ਅਤੇ ਸੰਕੁਚਨ ਕਰਵ ਲਗਭਗ ਇੱਕੋ ਜਿਹੇ ਹਨ, ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਢਾਂਚੇ ਦੀ ਉੱਚ ਲਚਕੀਲੇਤਾ ਨੂੰ ਉਜਾਗਰ ਕਰਦੇ ਹੋਏ।
ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਇੱਕੋ ਥਾਂ 'ਤੇ ਦੋ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਕਰਵ ਲੈਂਸ ਦੀ ਸਤਹ ਦੀ ਆਦਰਸ਼ ਲਚਕੀਲਾਤਾ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦੇ ਹਨ।
ਕ੍ਰਮਵਾਰ ਪੜਤਾਲ ਟਿਪ ਅਤੇ ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਸਤਹ ਦੇ SEM ਅਤੇ STEM ਚਿੱਤਰਾਂ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਜਾਣਕਾਰੀ ਦੇ ਆਧਾਰ 'ਤੇ, ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਮਾਡਲ AFM ਪ੍ਰੋਬ ਟਿਪ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਜਾ ਰਹੇ ਨਰਮ ਪੋਲੀਮਰ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਪਰਸਪਰ ਪ੍ਰਭਾਵ ਦਾ ਇੱਕ ਵਾਜਬ ਗਣਿਤਿਕ ਨੁਮਾਇੰਦਗੀ ਹੈ।ਇਸ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਇਸ ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਮਾਡਲ ਲਈ, ਛਾਪੀ ਗਈ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਲਚਕੀਲੇ ਗੁਣਾਂ ਬਾਰੇ ਬੁਨਿਆਦੀ ਧਾਰਨਾਵਾਂ ਇਸ ਨਵੀਂ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ ਸੱਚ ਹੁੰਦੀਆਂ ਹਨ ਅਤੇ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੀ ਮਾਤਰਾ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਵਰਤੀਆਂ ਜਾਂਦੀਆਂ ਹਨ।
AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਅਤੇ ਇਸਦੇ ਭਾਗਾਂ ਦੇ ਇੱਕ ਵਿਆਪਕ ਮੁਲਾਂਕਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਪੜਤਾਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ (ਆਕਾਰ, ਆਕਾਰ, ਅਤੇ ਬਸੰਤ ਕਠੋਰਤਾ), ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ (ਬੈਕਗ੍ਰਾਉਂਡ ਸ਼ੋਰ ਅਤੇ ਸੰਪਰਕ ਬਿੰਦੂ ਅਨੁਮਾਨ), ਅਤੇ ਡੇਟਾ ਫਿਟਿੰਗ ਮਾਡਲਾਂ (ਗੁਣਾਤਮਕ ਮਾਡਿਊਲਸ ਮਾਪ) ਸ਼ਾਮਲ ਸਨ, ਵਿਧੀ ਸੀ। ਵਰਤਿਆ.ਮਾਤਰਾਤਮਕ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਨ ਲਈ ਵਪਾਰਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਉਪਲਬਧ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਕਰੋ।1 kPa ਦੇ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੇ ਨਾਲ ਇੱਕ ਵਪਾਰਕ ਪੌਲੀਐਕਰਾਈਲਾਮਾਈਡ (PAAM) ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਨੂੰ 140 nm ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਹਾਈਡਰੇਟਿਡ ਹਾਲਤਾਂ ਵਿੱਚ ਟੈਸਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।ਮਾਡਿਊਲ ਟੈਸਟਿੰਗ ਅਤੇ ਗਣਨਾਵਾਂ ਦੇ ਵੇਰਵੇ ਪੂਰਕ ਜਾਣਕਾਰੀ ਵਿੱਚ ਦਿੱਤੇ ਗਏ ਹਨ।ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੇ ਦਿਖਾਇਆ ਕਿ ਔਸਤ ਮਾਡਿਊਲਸ ਮਾਪਿਆ ਗਿਆ 0.92 kPa ਸੀ, ਅਤੇ ਜਾਣੇ-ਪਛਾਣੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਤੋਂ% RSD ਅਤੇ ਪ੍ਰਤੀਸ਼ਤ (%) ਭਟਕਣਾ 10% ਤੋਂ ਘੱਟ ਸੀ।ਇਹ ਨਤੀਜੇ ਅਲਟਰਾਸਾਫਟ ਸਮੱਗਰੀ ਦੀ ਮਾਡਿਊਲੀ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਇਸ ਕੰਮ ਵਿੱਚ ਵਰਤੇ ਗਏ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਅਤੇ ਪ੍ਰਜਨਨਯੋਗਤਾ ਦੀ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਦੇ ਹਨ।ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਅਤੇ SiHy ਬੇਸ ਸਬਸਟਰੇਟ ਨੂੰ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ ਦੇ ਇੱਕ ਫੰਕਸ਼ਨ ਦੇ ਰੂਪ ਵਿੱਚ ਅਲਟਰਾਸਾਫਟ ਸਤਹ ਦੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦਾ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਲਈ ਉਸੇ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਹੋਰ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਦਿੱਤੀ ਗਈ ਸੀ।300 pN ਦੇ ਬਲ, 1 µm/s ਦੀ ਗਤੀ, ਅਤੇ ਪੂਰੀ ਹਾਈਡਰੇਸ਼ਨ 'ਤੇ ਹਰੇਕ ਕਿਸਮ ਦੇ ਤਿੰਨ ਨਮੂਨਿਆਂ (n = 3; ਪ੍ਰਤੀ ਨਮੂਨੇ ਲਈ ਇੱਕ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ) ਲਈ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਵਿਭਾਜਨ ਕਰਵ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਸਨ।ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਮਾਡਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਕੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਫੋਰਸ ਸ਼ੇਅਰਿੰਗ ਕਰਵ ਦਾ ਅੰਦਾਜ਼ਾ ਲਗਾਇਆ ਗਿਆ ਸੀ।ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕਰਨ ਲਈ, ਬਲ ਵਕਰ ਦੇ 40 nm ਚੌੜੇ ਹਿੱਸੇ ਨੂੰ ਸੰਪਰਕ ਦੇ ਬਿੰਦੂ ਤੋਂ ਸ਼ੁਰੂ ਹੋਣ ਵਾਲੇ 20 nm ਦੇ ਹਰੇਕ ਵਾਧੇ 'ਤੇ ਸੈੱਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ, ਅਤੇ ਫੋਰਸ ਵਕਰ ਦੇ ਹਰੇਕ ਪੜਾਅ 'ਤੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੇ ਮਾਪਿਆ ਗਿਆ ਮੁੱਲ।ਸਪਿਨ Cy et al.ਕੋਲੋਇਡਲ AFM ਪ੍ਰੋਬ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਪੌਲੀ(ਲੌਰੀਲ ਮੇਥਾਕ੍ਰੀਲੇਟ) (P12MA) ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਗਰੇਡੀਐਂਟ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਇੱਕ ਸਮਾਨ ਪਹੁੰਚ ਵਰਤੀ ਗਈ ਹੈ, ਅਤੇ ਉਹ ਹਰਟਜ਼ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਡੇਟਾ ਦੇ ਅਨੁਕੂਲ ਹਨ।ਇਹ ਪਹੁੰਚ ਸਪਸ਼ਟ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਿਊਲਸ (ਕੇਪੀਏ) ਬਨਾਮ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ (ਐਨਐਮ) ਦਾ ਇੱਕ ਪਲਾਟ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੀ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਚਿੱਤਰ 8 ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ, ਜੋ ਸਪੱਸ਼ਟ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਿਊਲਸ/ਡੂੰਘਾਈ ਗਰੇਡੀਐਂਟ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਂਦਾ ਹੈ।CL lehfilcon A ਨਮੂਨੇ ਦਾ ਗਣਨਾ ਕੀਤਾ ਲਚਕੀਲਾ ਮਾਡਿਊਲ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਉੱਪਰਲੇ 100 nm ਦੇ ਅੰਦਰ 2–3 kPa ਦੀ ਰੇਂਜ ਵਿੱਚ ਹੈ, ਜਿਸ ਤੋਂ ਅੱਗੇ ਇਹ ਡੂੰਘਾਈ ਨਾਲ ਵਧਣਾ ਸ਼ੁਰੂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ।ਦੂਜੇ ਪਾਸੇ, ਸਤ੍ਹਾ 'ਤੇ ਬੁਰਸ਼ ਵਰਗੀ ਫਿਲਮ ਦੇ ਬਿਨਾਂ SiHy ਬੇਸ ਸਬਸਟਰੇਟ ਦੀ ਜਾਂਚ ਕਰਦੇ ਸਮੇਂ, 300 pN ਦੇ ਬਲ 'ਤੇ ਪ੍ਰਾਪਤ ਕੀਤੀ ਅਧਿਕਤਮ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ 50 nm ਤੋਂ ਘੱਟ ਹੈ, ਅਤੇ ਡੇਟਾ ਤੋਂ ਪ੍ਰਾਪਤ ਮਾਡੂਲਸ ਮੁੱਲ ਲਗਭਗ 400 kPa ਹੈ। , ਜੋ ਕਿ ਬਲਕ ਸਮੱਗਰੀ ਲਈ ਯੰਗ ਦੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੇ ਮੁੱਲਾਂ ਨਾਲ ਤੁਲਨਾਯੋਗ ਹੈ।
ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਕੋਨ-ਸਫੇਅਰ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਦੇ ਨਾਲ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਲੇਹਫਿਲਕਨ A CL ਅਤੇ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟਸ ਲਈ ਸਪੱਸ਼ਟ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਿਊਲਸ (kPa) ਬਨਾਮ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ (nm)।
ਨਾਵਲ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਦੀ ਸਭ ਤੋਂ ਉਪਰਲੀ ਸਤ੍ਹਾ ਲਚਕਤਾ (2–3 kPa) ਦੇ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਘੱਟ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਿਤ ਕਰਦੀ ਹੈ।ਇਹ ਫੋਰਕਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੇ ਮੁਫਤ ਲਟਕਣ ਵਾਲੇ ਸਿਰੇ ਨਾਲ ਮੇਲ ਕਰੇਗਾ ਜਿਵੇਂ ਕਿ STEM ਚਿੱਤਰ ਵਿੱਚ ਦਿਖਾਇਆ ਗਿਆ ਹੈ।ਹਾਲਾਂਕਿ CL ਦੇ ਬਾਹਰੀ ਕਿਨਾਰੇ 'ਤੇ ਇੱਕ ਮਾਡਿਊਲਸ ਗਰੇਡੀਐਂਟ ਦੇ ਕੁਝ ਸਬੂਤ ਹਨ, ਮੁੱਖ ਉੱਚ ਮਾਡਿਊਲਸ ਸਬਸਟਰੇਟ ਵਧੇਰੇ ਪ੍ਰਭਾਵਸ਼ਾਲੀ ਹੈ।ਹਾਲਾਂਕਿ, ਸਤ੍ਹਾ ਦਾ ਸਿਖਰ 100 nm ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਦੀ ਕੁੱਲ ਲੰਬਾਈ ਦੇ 20% ਦੇ ਅੰਦਰ ਹੈ, ਇਸ ਲਈ ਇਹ ਮੰਨਣਾ ਜਾਇਜ਼ ਹੈ ਕਿ ਇਸ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਡੂੰਘਾਈ ਰੇਂਜ ਵਿੱਚ ਮਾਡਿਊਲਸ ਦੇ ਮਾਪੇ ਗਏ ਮੁੱਲ ਮੁਕਾਬਲਤਨ ਸਹੀ ਹਨ ਅਤੇ ਜ਼ੋਰਦਾਰ ਨਹੀਂ ਹਨ। ਹੇਠਲੇ ਵਸਤੂ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ 'ਤੇ ਨਿਰਭਰ ਕਰਦਾ ਹੈ।
ਲੇਹਫਿਲਕਨ ਏ ਕਾਂਟੈਕਟ ਲੈਂਸਾਂ ਦੇ ਵਿਲੱਖਣ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਡਿਜ਼ਾਈਨ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਜਿਸ ਵਿੱਚ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੀਐਮਪੀਸੀ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਬਣਤਰ ਸ਼ਾਮਲ ਹਨ ਜੋ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟਾਂ ਦੀ ਸਤਹ 'ਤੇ ਗ੍ਰਾਫਟ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ, ਰਵਾਇਤੀ ਮਾਪ ਵਿਧੀਆਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਉਨ੍ਹਾਂ ਦੀ ਸਤਹ ਦੀਆਂ ਬਣਤਰਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਭਰੋਸੇਯੋਗਤਾ ਨਾਲ ਦਰਸਾਉਣਾ ਬਹੁਤ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੈ।ਇੱਥੇ ਅਸੀਂ ਉੱਚ ਪਾਣੀ ਦੀ ਸਮਗਰੀ ਅਤੇ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਲਚਕੀਲੇਪਣ ਵਾਲੇ ਲੇਫਿਲਕਨ ਏ ਵਰਗੀਆਂ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਨੂੰ ਸਹੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਦਰਸਾਉਣ ਲਈ ਇੱਕ ਉੱਨਤ AFM ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਪੇਸ਼ ਕਰਦੇ ਹਾਂ।ਇਹ ਵਿਧੀ ਇੱਕ AFM ਪੜਤਾਲ ਦੀ ਵਰਤੋਂ 'ਤੇ ਅਧਾਰਤ ਹੈ ਜਿਸਦੀ ਟਿਪ ਆਕਾਰ ਅਤੇ ਜਿਓਮੈਟਰੀ ਨੂੰ ਛਾਪਣ ਲਈ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਤਹ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੇ ਸੰਰਚਨਾਤਮਕ ਮਾਪਾਂ ਨਾਲ ਮੇਲ ਕਰਨ ਲਈ ਧਿਆਨ ਨਾਲ ਚੁਣਿਆ ਗਿਆ ਹੈ।ਪੜਤਾਲ ਅਤੇ ਬਣਤਰ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਮਾਪਾਂ ਦਾ ਇਹ ਸੁਮੇਲ ਵਧੀ ਹੋਈ ਸੰਵੇਦਨਸ਼ੀਲਤਾ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਜਿਸ ਨਾਲ ਅਸੀਂ ਪੋਰੋਇਲਾਸਟਿਕ ਪ੍ਰਭਾਵਾਂ ਦੀ ਪਰਵਾਹ ਕੀਤੇ ਬਿਨਾਂ, ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ ਤੱਤਾਂ ਦੇ ਘੱਟ ਮਾਡਿਊਲਸ ਅਤੇ ਅੰਦਰੂਨੀ ਲਚਕੀਲੇ ਗੁਣਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਦੀ ਇਜਾਜ਼ਤ ਦਿੰਦੇ ਹਾਂ।ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੇ ਦਿਖਾਇਆ ਕਿ ਲੈਂਜ਼ ਦੀ ਸਤ੍ਹਾ ਦੀ ਵਿਲੱਖਣ ਸ਼ਾਖਾ ਵਾਲੇ PMPC ਪੌਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ ਇੱਕ ਬਹੁਤ ਹੀ ਘੱਟ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ (2 kPa ਤੱਕ) ਅਤੇ ਬਹੁਤ ਜ਼ਿਆਦਾ ਲਚਕੀਲੇਪਣ (ਲਗਭਗ 100%) ਸੀ ਜਦੋਂ ਇੱਕ ਜਲਮਈ ਵਾਤਾਵਰਣ ਵਿੱਚ ਟੈਸਟ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਸੀ।AFM ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੇ ਸਾਨੂੰ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਲੈਂਸ ਸਤਹ ਦੇ ਸਪੱਸ਼ਟ ਸੰਪਰਕ ਮਾਡਿਊਲਸ/ਡੂੰਘਾਈ ਗਰੇਡੀਐਂਟ (30 kPa/200 nm) ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਦੀ ਵੀ ਇਜਾਜ਼ਤ ਦਿੱਤੀ।ਇਹ ਗਰੇਡੀਐਂਟ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਪੋਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਅਤੇ SiHy ਸਬਸਟਰੇਟ, ਜਾਂ ਪੌਲੀਮਰ ਬੁਰਸ਼ਾਂ ਦੀ ਬ੍ਰਾਂਚਡ ਬਣਤਰ/ਘਣਤਾ, ਜਾਂ ਇਸਦੇ ਸੁਮੇਲ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਮਾਡਿਊਲਸ ਅੰਤਰ ਦੇ ਕਾਰਨ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ।ਹਾਲਾਂਕਿ, ਬਣਤਰ ਅਤੇ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਸਬੰਧ ਨੂੰ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਸਮਝਣ ਲਈ ਹੋਰ ਡੂੰਘਾਈ ਨਾਲ ਅਧਿਐਨ ਕਰਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੈ, ਖਾਸ ਕਰਕੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ 'ਤੇ ਬੁਰਸ਼ ਬ੍ਰਾਂਚਿੰਗ ਦੇ ਪ੍ਰਭਾਵ।ਇਸੇ ਤਰ੍ਹਾਂ ਦੇ ਮਾਪ ਹੋਰ ਅਤਿ-ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਅਤੇ ਮੈਡੀਕਲ ਉਪਕਰਣਾਂ ਦੀ ਸਤਹ ਦੇ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਦਰਸਾਉਣ ਵਿੱਚ ਮਦਦ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ।
ਮੌਜੂਦਾ ਅਧਿਐਨ ਦੌਰਾਨ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਗਏ ਅਤੇ/ਜਾਂ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕੀਤੇ ਗਏ ਡੇਟਾਸੇਟਸ ਵਾਜਬ ਬੇਨਤੀ 'ਤੇ ਸੰਬੰਧਿਤ ਲੇਖਕਾਂ ਤੋਂ ਉਪਲਬਧ ਹਨ।
ਰਹਿਮਤੀ, ਐੱਮ., ਸਿਲਵਾ, ਈ.ਏ., ਰੀਸਲੈਂਡ, ਜੇ.ਈ., ਹੇਵਰਡ, ਕੇ. ਅਤੇ ਹਾਉਗੇਨ, ਐਚ.ਜੇ. ਬਾਇਓਮਟੀਰੀਅਲਜ਼ ਦੀਆਂ ਸਤਹਾਂ ਦੀਆਂ ਭੌਤਿਕ ਅਤੇ ਰਸਾਇਣਕ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਲਈ ਜੈਵਿਕ ਪ੍ਰਤੀਕ੍ਰਿਆਵਾਂ।ਰਸਾਇਣਕ.ਸਮਾਜ।ਐਡ.49, 5178–5224 (2020)।
ਚੇਨ, ਐਫਐਮ ਅਤੇ ਲਿਊ, ਐਕਸ. ਟਿਸ਼ੂ ਇੰਜਨੀਅਰਿੰਗ ਲਈ ਮਨੁੱਖੀ-ਪ੍ਰਾਪਤ ਬਾਇਓਮੈਟਰੀਅਲਜ਼ ਦਾ ਸੁਧਾਰ।ਪ੍ਰੋਗਰਾਮਿੰਗਪੌਲੀਮਰਵਿਗਿਆਨ.53, 86 (2016)।
ਸੈਡਟਲਰ, ਕੇ. ਐਟ ਅਲ.ਰੀਜਨਰੇਟਿਵ ਮੈਡੀਸਨ ਵਿੱਚ ਬਾਇਓਮੈਟਰੀਅਲਜ਼ ਦਾ ਡਿਜ਼ਾਇਨ, ਕਲੀਨਿਕਲ ਲਾਗੂਕਰਨ, ਅਤੇ ਇਮਿਊਨ ਪ੍ਰਤੀਕਿਰਿਆ।ਨੈਸ਼ਨਲ ਮੈਟ ਰੇਵ. 1, 16040 (2016)।
ਓਲੀਵਰ ਡਬਲਯੂਕੇ ਅਤੇ ਫਾਰਰ ਜੀਐਮ ਲੋਡ ਅਤੇ ਵਿਸਥਾਪਨ ਮਾਪਾਂ ਦੇ ਨਾਲ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਪ੍ਰਯੋਗਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਕਠੋਰਤਾ ਅਤੇ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਇੱਕ ਸੁਧਾਰੀ ਵਿਧੀ।ਜੇ. ਅਲਮਾ ਮੈਟਰ।ਸਟੋਰੇਜ਼ ਟੈਂਕ.7, 1564-1583 (2011)।
ਵੈਲੀ, ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਕਠੋਰਤਾ ਟੈਸਟਿੰਗ ਦੇ SM ਇਤਿਹਾਸਕ ਮੂਲ।ਅਲਮਾ ਮੈਟਰਵਿਗਿਆਨ.ਤਕਨਾਲੋਜੀਆਂ।28, 1028–1044 (2012)।
ਬ੍ਰੋਇਟਮੈਨ, ਈ. ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਹਾਰਡਨੈੱਸ ਮਾਪ ਐਟ ਦਿ ਮੈਕਰੋ-, ਮਾਈਕ੍ਰੋ-, ਅਤੇ ਨੈਨੋਸਕੇਲ: ਏ ਕ੍ਰਿਟੀਕਲ ਰਿਵਿਊ।ਕਬੀਲਾਰਾਈਟ.65, 1–18 (2017)।
ਕਾਫਮੈਨ, ਜੇਡੀ ਅਤੇ ਕਲੈਪੇਰਿਚ, ਐਸਐਮ ਸਰਫੇਸ ਖੋਜ ਦੀਆਂ ਗਲਤੀਆਂ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀਆਂ ਦੇ ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿੱਚ ਮਾਡਿਊਲਸ ਓਵਰਸਟੀਮੇਸ਼ਨ ਵੱਲ ਲੈ ਜਾਂਦੀਆਂ ਹਨ।ਜੇ ਮੇਚਾ।ਵਿਵਹਾਰ.ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਵਿਗਿਆਨ।ਅਲਮਾ ਮੈਟਰ2, 312–317 (2009)।
ਕਰੀਮਜ਼ਾਦੇ ਏ., ਕੋਲੂਰ ਐਸ.ਐਸ.ਆਰ., ਅਯਾਤੁੱਲਾਖੀ ਐਮ.ਆਰ., ਬੁਸ਼ਰੋਆ ਏ.ਆਰ. ਅਤੇ ਯਾਹਿਆ ਐਮ.ਯੂ.ਪ੍ਰਯੋਗਾਤਮਕ ਅਤੇ ਗਣਨਾਤਮਕ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਵਿਭਿੰਨ ਨੈਨੋਕੰਪੋਜ਼ਿਟਸ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਨੈਨੋਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਵਿਧੀ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ।ਵਿਗਿਆਨ.ਹਾਊਸ 9, 15763 (2019)।
ਲਿਊ, ਕੇ., ਵੈਨਲੈਂਡਿੰਗਮ, ਐਮਆਰ, ਅਤੇ ਓਵਰਟ, ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਅਤੇ ਓਪਟੀਮਾਈਜੇਸ਼ਨ-ਅਧਾਰਿਤ ਉਲਟ ਸੀਮਿਤ ਤੱਤ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਦੁਆਰਾ ਨਰਮ ਵਿਸਕੋਇਲੇਸਟਿਕ ਜੈੱਲਾਂ ਦੀ TS ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ।ਜੇ ਮੇਚਾ।ਵਿਵਹਾਰ.ਬਾਇਓਮੈਡੀਕਲ ਵਿਗਿਆਨ।ਅਲਮਾ ਮੈਟਰ2, 355–363 (2009)।
ਐਂਡਰਿਊਜ਼ ਜੇ.ਡਬਲਯੂ., ਬੋਵੇਨ ਜੇ ਅਤੇ ਚੈਨੇਲਰ ਡੀ. ਅਨੁਕੂਲ ਮਾਪਣ ਪ੍ਰਣਾਲੀਆਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਵਿਸਕੋਇਲੇਸਟੀਟੀ ਨਿਰਧਾਰਨ ਦਾ ਅਨੁਕੂਲਤਾ।ਸਾਫਟ ਮੈਟਰ 9, 5581–5593 (2013)।
ਬ੍ਰਿਸਕੋ, ਬੀ.ਜੇ., ਫਿਓਰੀ, ਐਲ. ਅਤੇ ਪੇਲੀਲੋ, ਈ. ਪੋਲੀਮਰਿਕ ਸਤਹਾਂ ਦੀ ਨੈਨੋਇੰਡੇਂਟੇਸ਼ਨ।ਜੇ. ਭੌਤਿਕ ਵਿਗਿਆਨ।D. ਭੌਤਿਕ ਵਿਗਿਆਨ ਲਈ ਅਪਲਾਈ ਕਰੋ।31, 2395 (1998)।
ਮਿਆਇਲੋਵਿਚ ਏ.ਐਸ., ਸਿਨ ਬੀ., ਫਾਰਚੁਨਾਟੋ ਡੀ. ਅਤੇ ਵੈਨ ਵਲੀਏਟ ਕੇਜੇ ਸਦਮੇ ਦੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਬਹੁਤ ਹੀ ਲਚਕੀਲੇ ਪੌਲੀਮਰਾਂ ਅਤੇ ਜੈਵਿਕ ਟਿਸ਼ੂਆਂ ਦੇ ਵਿਸਕੋਇਲੇਸਟਿਕ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾ।ਬਾਇਓਮੈਟਰੀਅਲਜ਼ ਦਾ ਜਰਨਲ।71, 388–397 (2018)।
ਪੇਰੇਪੇਲਕਿਨ ਐਨਵੀ, ਕੋਵਾਲੇਵ ਏ.ਈ., ਗੋਰਬ ਐਸਐਨ, ਬੋਰੋਡਿਚ ਐਫਐਮ ਵਿਸਤ੍ਰਿਤ ਬੋਰੋਡਿਚ-ਗਲਾਨੋਵ (ਬੀਜੀ) ਵਿਧੀ ਅਤੇ ਡੂੰਘੇ ਇੰਡੈਂਟੇਸ਼ਨ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਦੇ ਹੋਏ ਨਰਮ ਸਮੱਗਰੀ ਦੇ ਲਚਕੀਲੇ ਮਾਡਿਊਲਸ ਅਤੇ ਅਡੈਸ਼ਨ ਵਰਕ ਦਾ ਮੁਲਾਂਕਣ।ਫਰਅਲਮਾ ਮੈਟਰ129, 198–213 (2019)।
ਸ਼ੀ, ਐਕਸ ਐਟ ਅਲ.ਨੈਨੋਸਕੇਲ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ ਅਤੇ ਸਿਲੀਕੋਨ ਹਾਈਡ੍ਰੋਜੇਲ ਸੰਪਰਕ ਲੈਂਸਾਂ ਦੀਆਂ ਬਾਇਓਮੀਮੈਟਿਕ ਪੌਲੀਮੇਰਿਕ ਸਤਹਾਂ ਦੀਆਂ ਮਕੈਨੀਕਲ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ।ਲੈਂਗਮੁਇਰ 37, 13961–13967 (2021)।